中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院井致远获国家专利权
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龙图腾网获悉中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院申请的专利一种多主元合金薄膜及其制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119287315B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411213414.2,技术领域涉及:C23C14/16;该发明授权一种多主元合金薄膜及其制备方法是由井致远;张志彬;梁秀兵;胡振峰;吴蒙恩;孙川;何鹏飞;邢悦;王晓晶设计研发完成,并于2024-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多主元合金薄膜及其制备方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种多主元合金薄膜及其制备方法。该多主元合金薄膜为Ta、Hf、W等原子或非等原子比组成,所述多主元合金薄膜的化学式为TaaaHfbbWcc;其中,a为30%~50%,b为15%~35%,c为30%~45%,且a+b+c=1。本发明提供的多主元合金薄膜,能够通过多靶直流磁控溅射薄膜沉积的方法得到,该Ta‑Hf‑W多主元合金薄膜成分可控且均匀、致密性好、表面粗糙度小、硬度和弹性模量高。
本发明授权一种多主元合金薄膜及其制备方法在权利要求书中公布了:1.一种多主元合金薄膜,其特征在于,所述多主元合金薄膜为Ta、Hf、W等原子或非等原子比组成,所述多主元合金薄膜的化学式为TaaHfbWc;其中,a为30%~50%,b为15%~35%,c为30%~45%,且a+b+c=1,所述多主元合金薄膜具有单相体心立方晶体结构,表面粗糙度为5.40~8.34nm,薄膜的硬度为16.6~19.4GPa,弹性模量为278.1~328.5GPa;所述多主元合金薄膜由以下方法制备,包括将Ta靶材、Hf靶材和W靶材以设定的溅射功率进行磁控溅射薄膜沉积,得到多主元合金薄膜;所述Ta靶材的溅射功率为100~150W,Hf靶材的溅射功率为50~100W,W靶材的溅射功率为100~150W。
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