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龙图腾网获悉奈米科学仪器装备(杭州)有限公司申请的专利基于双通道分区投影的透明元件双表面偏折测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118671074B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410988367.2，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权基于双通道分区投影的透明元件双表面偏折测量方法是由刘志平;叶颖;李煜设计研发完成，并于2024-07-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于双通道分区投影的透明元件双表面偏折测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于双通道分区投影的透明元件双表面偏折测量方法，属于偏折测量技术领域，本发明对双通道测量系统进行联合标定，通过对折射通道中透明元件进行光线追迹定位，基于双通道测量系统标定与工件定位参数，对被测元件名义模型进行追迹实现屏幕分区，并以此为指导设计两套分区序列投影条纹来避免反射信号的混叠。测量时，通过交替投影所设计的非满占空比条纹获得透明元件上下表面未混叠的反射信号，进而通过双目确定待测点与屏幕和相机的对应关系，最后通过梯度积分获取几何面形，解决了透明元件在偏折测量中双表面信号混叠的问题。

本发明授权基于双通道分区投影的透明元件双表面偏折测量方法在权利要求书中公布了：1.基于双通道分区投影的透明元件双表面偏折测量方法，基于双表面偏折测量系统实现，双表面偏折测量系统包括第一相机1、第二相机2和屏幕3，其特征在于，包括如下步骤： 通过折射通道对透明元件进行定位，通过设计分区条纹图案避免双表面信号混叠以及通过灵敏度不同的双目对透明元件双表面同时重建，具体包括如下步骤： S1、通过计算机辅助系统确定双表面偏折测量系统结构：根据实际的硬件参数模拟双表面偏折测量系统结构，通过计算机辅助系统确定各硬件的几何参数，使折射通道的第二相机2能观测到屏幕3，并在测量视场中放置被测件使第一相机1同样能观测到屏幕3； S2、搭建双表面偏折测量系统结构：根据模拟的双表面偏折测量系统结构，搭建折反双通道相位测量偏折系统，并通过参考镜验证双表面偏折测量系统结构的正确性； S3、对所搭建的双表面偏折测量系统参数进行标定：通过张正友标定确定两个相机的内参，在屏幕3上显示标记点，基于PnP算法标定出折射通道的第二相机2与屏幕3的几何位姿，借助于带标记点的平面镜标定出反射通道的第一相机1与屏幕3的几何位姿； S4、双表面偏折测量系统参数的联合优化：建立基于光束平差法的联合优化器同时调优两个通道的相机内参及系统几何参数，缩短误差的传递链条； S5、折射通道透明元件的定位：建立折射通道的光线追迹定位优化器，通过分析透明元件引入的波像差实现定位； S6、分区投影条纹设计：根据已标定的参数及工件位姿进行光线追迹，对屏幕3进行分区，将不需要的表面反射信号对应的屏幕区域设置为黑区； 采用折射通道基于光束平差法对透明元件进行定位，指导设计光源的布局； S7、双通道信号的获取：按照S6中设计的光源布局依次投影非满占空比的四步相移条纹图案，分别获取无混叠的上下表面信号； S8、信号解调与匹配：对反射通道获取的信号进行解调，并根据光线追迹匹配信号的来源，将其拼接为完整无混叠的双表面信号，折射通道无混叠，对双表面信号进行解码； S9、梯度获取：采用折反双通道追迹模型确定被测点，结合解耦信号，基于双表面偏折测量系统参数确定两个相机与屏幕3的对应关系，确定被测点的法向； S10、面形重构：通过梯度积分获取被测透明元件双表面的面形。

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