买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉吉林大学申请的专利一种电子元器件表面印刷图案的纹理检测与匹配方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116563254B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310533972.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种电子元器件表面印刷图案的纹理检测与匹配方法是由洪伟;张星宇;廖育霆设计研发完成，并于2023-05-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子元器件表面印刷图案的纹理检测与匹配方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种电子元器件表面印刷图案的纹理检测与匹配方法，简称ORBAMORBandAreaMatch算法，属于汽车保险盒组装生产线中的质量检测技术领域。为了解决现有图像检测方法针对表面带有纹理印刷图案的器件需要解决光照条件变化对检测结果造成的干扰和提高对表面纹理高度相似的异类器件检测的准确度的问题，本发明基于ORB算法采取了一系列改进措施，通过自适应对比度增强方法提高图像在不理想光照条件下的对比度，利用基于最大密度约束的特征点筛选和四值特征描述子提升纹理描述算法的性能，并利用特征覆盖区域计算标准器件与待测器件的相似度，有效地解决了表面纹理高度相似的异类器件的检测问题。

本发明授权一种电子元器件表面印刷图案的纹理检测与匹配方法在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件表面印刷图案的纹理检测与匹配方法，其特征在于，该方法步骤如下： 步骤一、工控机系统采用工业相机，在一个封闭的箱体内采集保险盒图像，尽量保证电子元器件表面上的印刷图案在图像中能够清晰、完整地成像； 步骤二、在保险盒批量装配生产前，先拍摄、保存电子元器件表面印刷图案的标准图像f，建立纹理特征描述； 步骤三、装配生产过程中，拍摄待测器件图像f′，利用步骤二的方法提取特征点，并建立纹理特征描述； 步骤四、将待测器件的纹理特征与标准图像的纹理特征进行区域匹配，并计算相似度；若相似度高于阈值，则装配正确，否则装配错误，产品检测不合格； 步骤二中建立纹理特征描述的方法包括以下步骤： 1将标准图像f转换为灰度图像g； 2然后利用自适应对比度增强方法获得对比度增强图g_e； 3以对比度增强图g_e为初始化图像g_e0，构建图像金字塔{g_ei|i＝0,1,…,nc}，nc为设置的图像金字塔总层数； 4采用FAST算法提取出图像金字塔每一层图像的特征点； 图像中某一点P的灰度值为gP，将其邻域像素点P1～Pj分为d暗、s相似、b亮三类，对应的类别记为Sj，分类公式如下： 其中，gΔ为设置的灰度阈值；若点P的邻域像素中存在连续大于等于NP个非s的相同分类像素点，则将点P作为特征点； 5基于最大密度约束的特征点筛选； 首先从图像金字塔的第nc层开始向下遍历并筛选特征点，设当前层为i层，初始化为i＝nc；然后根据第i层图像g_ei构造相同尺寸的特征覆盖图ci，代表像素点x,y的位置上检测到的特征点数量，初始值设置为0；直接反映了特征点的聚集密度； 遍历图像g_ei中的每个特征点，更新特征覆盖图ci；设坐标为x,y的特征点为Kx,y，ta为设定阈值，若则舍弃该特征点；否则，保留该特征点，同时以坐标x,y为中心，建立wc×wc的覆盖区域，记为rectK，并对此区域内的点遍历更新的赋值： 根据特征覆盖图ci采用最近邻插值方法，获得与图像金字塔第i-1层图像g_ei-1相同尺寸的ci-1；接下来对第i-1层图像获得的特征点进行筛选，重复上述操作，直至第0层图像g_e0； 6建立四值特征描述子； 1首先以特征点Kx,y为中心，在wb×wb大小的邻域内随机选取nb个固定的像素点对，pn表示特征点Kx,y的第n组像素点对，pn＝x1n,y1n,x2n,y2n； 2分类结果δpn设计为四类数值，用两位二进制表示，判别公式如下： 其中tb1，tb2为像素值差异的判断阈值； 3利用下式计算得到该特征点的描述子bKnb： 所述步骤四中纹理特征区域匹配，计算相似比的方法的实现过程如下： 1利用汉明距离将标准图像f和待测器件图像f′中特征点进行暴力匹配，并利用随机采样一致性方法消除误匹配项； 2计算匹配区域和未匹配区域 将特征点Kx,y的覆盖区域定义为以x,y为中心，wr×wr的正方形，记为rectl； 设标准图像f的已匹配特征点数量为Nfr，已匹配特征点的覆盖区域的并集构成了纹理特征描述的区域，记为Areafr： 同理，可以计算出所有未匹配特征点的覆盖区域，记为Areafe； 对未匹配的覆盖区域与已匹配覆盖区域作差集进一步修改Areafe: Areafe＝Areafe-Areafr 为获得器件中所有特征的覆盖区域，对未匹配的覆盖区域与已匹配覆盖区域作并集，记Areaf： Areaf＝Areafr∪Areafe 同理，针对待测器件图像f′求其Sreaf′r、Areaf′e和Sreaf′； 设待测器件图像f′和标准图像f的相似比为D，采用函数SArea计算区域Area的面积，则相似比D的计算公式如下： D越接近1，说明未匹配面积在整体面积中占比越小，待测器件图像与标准图像越相似；反之，D越接近0，说明未匹配面积在整体面积中占比越大，待测器件图像与标准图像差异越大； 当DtD时，说明待测器件图像f′和标准图像f属于同类器件，产品装配正确；反之，产品装配错误；阈值tD根据元器件的相似程度调整。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人吉林大学，其通讯地址为：130012 吉林省长春市长春高新技术产业开发区前进大街2699号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。