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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利纳米探针测试的样品固定机构、测试装置及样品测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115407087B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110580231.4，技术领域涉及：G01Q30/02；该发明授权纳米探针测试的样品固定机构、测试装置及样品测试方法是由陈家宝设计研发完成，并于2021-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本纳米探针测试的样品固定机构、测试装置及样品测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种纳米探针测试的样品固定机构、纳米探针测试装置及样品测试方法，该样品固定机构包括：基座，其具有第一装配面；固定器，其具有与第一装配面配合的第二装配面，固定器还具有与第二装配面相对的固定面，固定面用于与样品粘结固定；锁定结构，其具有锁定状态和解锁状态；在锁定状态，锁定结构能够将固定器与基座相对固定；在解锁状态，固定器能够从基座移除。通过高温加热的方式将胶熔化后使样品与固定器粘贴牢固,再将固定器的第二装配面与基座的第一装配面配合，通过锁定结构将固定器与基座相对固定；再将样品进到纳米探针机台里，进行纳米探针测试，获得样品的测试数据。

本发明授权纳米探针测试的样品固定机构、测试装置及样品测试方法在权利要求书中公布了：1.一种纳米探针测试的固定机构，其特征在于， 包括： 基座，其具有第一装配面，所述基座上具有不能加热的材料； 固定器，其具有与所述第一装配面配合的第二装配面，所述固定器还具有与所述第二装配面相对的固定面，所述固定面用于与样品粘结固定，所述样品通过高温加热的方式将胶熔化后与所述固定器粘贴牢固； 锁定结构，其具有锁定状态和解锁状态； 在所述锁定状态，所述锁定结构能够将所述固定器与所述基座相对固定； 在所述解锁状态，所述固定器能够从所述基座移除； 所述第二装配面上具有突出的定位块，所述第一装配面上设有第一凹槽，所述定位块与所述第一凹槽配合，所述定位块沿所述固定器的四周间隔设置； 所述锁定结构包括第一连接部和第二连接部，所述第一连接部设于所述基座上，所述第二连接部设为弹性件，所述弹性件的一端与所述第二装配面连接，且所述弹性件的另一端卡入所述第一连接部，以使所述固定器与所述基座处于所述锁定状态； 所述弹性件的另一端受挤压变形弹出所述第一连接部，以使所述固定器与所述基座处于所述解锁状态。

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