株式会社日立高新技术海老塚泰获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社日立高新技术申请的专利缺陷检查装置以及缺陷检查方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115219537B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210349312.8,技术领域涉及:G01N23/2251;该发明授权缺陷检查装置以及缺陷检查方法是由海老塚泰;新藤博之;荫谷龙吾设计研发完成,并于2022-04-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本缺陷检查装置以及缺陷检查方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种缺陷检查装置以及缺陷检查方法,其在合成图像中能够检查多种多样的缺陷种类。该缺陷检查装置将来自第一检测器的第一检测信号和来自第二检测器的第二检测信号以第一合成比率进行合成而生成第一合成图像,并且将所述第一检测信号和所述第二检测信号以与所述第一合成比率不同的第二合成比率进行合成而生成第二合成图像。然后,基于所述第一合成图像生成第一检查图像,并且基于所述第二合成图像生成第二检查图像。并且,执行所述第一检查图像和所述第二检查图像的逻辑运算来生成合成检查图像。对所述合成检查图像执行缺陷判定。
本发明授权缺陷检查装置以及缺陷检查方法在权利要求书中公布了:1.一种缺陷检查装置,其特征在于,具备: 图像合成部,其针对设为缺陷检查的对象的区域,将通过对所述区域照射电子束而由第一检测器检测出的第一检测信号和由第二检测器检测出的第二检测信号以第一合成比率进行合成而生成第一合成图像,并且将所述第一检测信号和所述第二检测信号以与所述第一合成比率不同的第二合成比率进行合成而生成第二合成图像; 缺陷检查处理部,其基于所述第一合成图像和对所述第一合成比率进行了最佳化的检查参数来生成第一检查图像,并且基于所述第二合成图像和对所述第二合成比率进行了最佳化的检查参数来生成第二检查图像; 检查图像运算部,其执行所述第一检查图像和所述第二检查图像的逻辑运算来生成合成检查图像;以及 缺陷判定处理部,其对所述合成检查图像执行缺陷判定, 所述第一检测器是二次电子检测器,所述第二检测器是后方散射电子检测器。
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