深圳市国微电子有限公司关达获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市国微电子有限公司申请的专利一种芯片测试电路及测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223926562U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423293048.4，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种芯片测试电路及测试装置是由关达;李宪全;马德源设计研发完成，并于2024-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试电路及测试装置在说明书摘要公布了：本申请属于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试电路及测试装置，在基板正面设置控制模块和多个同轴开关，通过将同轴开关的插座由基板上的开关通孔露出于基板的背面，并将多个所述同轴开关按照串联或者并联电连接组成差分开关切换电路，差分开关切换电路输出的差分信号转换为单端信号输出，由控制模块控制多个同轴开关的开关状态，从而形成不同的测试链路，分别接通待测芯片中的差分信号引脚，实现对待测芯片的多通道覆盖测试，并且不会影响信号质量，提高了芯片的测试效率。
本实用新型一种芯片测试电路及测试装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试电路，其特征在于，所述芯片测试电路包括： 基板； 设置在所述基板正面的控制模块和差分开关切换电路，差分开关切换电路包括多个同轴开关，所述同轴开关的插座通过所述基板上的开关通孔露出于所述基板的背面，多个所述同轴开关按照串联或者并联电连接，以组成所述差分开关切换电路； 信号转接模块，与所述差分开关切换电路连接，用于将所述差分开关切换电路输出的差分信号转换为单端信号输出； 多个所述同轴开关与所述控制模块连接，所述同轴开关的开关状态受控于所述控制模块。
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