中国科学院理化技术研究所李碧溪获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院理化技术研究所申请的专利一种用于测量低温下近场辐射发射率的装置及设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223925840U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520664272.5，技术领域涉及：G01J5/00；该实用新型一种用于测量低温下近场辐射发射率的装置及设备是由李碧溪;张恒成;沈福至;张浩;黄子淳;谢连城;李来风设计研发完成，并于2025-04-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于测量低温下近场辐射发射率的装置及设备在说明书摘要公布了：本实用新型提供一种用于测量低温下近场辐射发射率的装置及设备，该装置包括具有中空内腔的真空管及固定于真空管内的测量机构；测量机构包括调节组件，与调节组件连接的发射端样品件及与发射端样品件对应配合的吸收端样品件；调节组件包括调平结构及调距结构；调距结构包括可运动杆，驱动运动杆运动的驱动件及与运动杆一端连接的热绝缘件；调平结构与热绝缘件固定，发射端样品件与调平结构固定；调距结构可驱动调平结构及发射端样品件沿真空管轴向靠近或远离吸收端样品件；调平结构可在调距结构的驱动下使得发射端样品件的下表面与吸收端样品件的上表面贴合，并使发射端样品件的下表面与吸收端样品件的上表面保持相对平行状态。
本实用新型一种用于测量低温下近场辐射发射率的装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种用于测量低温下近场辐射发射率的装置，其特征在于，包括： 具有中空内腔的真空管及固定于真空管内的测量机构； 所述测量机构包括调节组件，与调节组件连接的发射端样品件及与发射端样品件对应配合的吸收端样品件； 所述调节组件包括用以调节发射端样品件与吸收端样品件平行度的调平结构及用以调节发射端样品件与吸收端样品件间距的调距结构； 所述调距结构包括可沿真空管轴向运动的运动杆，用以驱动运动杆运动的驱动件及与运动杆一端连接的热绝缘件；所述调平结构与热绝缘件固定，所述发射端样品件与调平结构固定； 所述调距结构被配置为可驱动调平结构及发射端样品件沿真空管轴向靠近或远离吸收端样品件； 所述调平结构被配置为可在调距结构的驱动下使得发射端样品件的下表面与吸收端样品件的上表面贴合，并使发射端样品件的下表面与吸收端样品件的上表面保持相对平行状态。
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