长川半导体(深圳)有限公司任春茂获国家专利权
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龙图腾网获悉长川半导体(深圳)有限公司申请的专利功率模块的测试工况管控方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121254030B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511821389.0，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权功率模块的测试工况管控方法及装置是由任春茂;李浩然;谢亮;王伟群;黄广龙;许楚贤;谢瑾设计研发完成，并于2025-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本功率模块的测试工况管控方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种功率模块的测试工况管控方法及装置，该方法包括：在功率模块的测试工况编辑阶段，获取编辑的工况文件；工况文件中包括多个档位的测试电流值和对应的预设持续时长；针对多个档位中每个当前档位的测试电流值，预测基于测试电流值测试时压接处的稳定温度；压接处是测试设备中的铜排与功率模块的压接位置；比对测试电流值对应的起始压接温度与稳定温度的差异，确定温度变化趋势；基于温度变化趋势和预设持续时长预测段末温度；段末温度是基于测试电流值持续测试预设持续时长后压接处的温度；基于段末温度对工况文件进行合理性校验。该方法能够提高工况文件校验合理性。
本发明授权功率模块的测试工况管控方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种功率模块的测试工况管控方法，其特征在于，所述方法包括： 在功率模块的测试工况编辑阶段，获取编辑的工况文件；所述工况文件中包括多个档位的测试电流值和对应的预设持续时长； 针对所述多个档位中每个当前档位的所述测试电流值，预测基于所述测试电流值测试时压接处的稳定温度；所述压接处是测试设备中的铜排与所述功率模块的压接位置； 比对所述测试电流值对应的起始压接温度与所述稳定温度的差异，确定温度变化趋势；其中，首个档位的测试电流值对应的起始压接温度为环境温度；非首个档位的测试电流值对应的起始压接温度，是预测的基于上一档位的测试电流值进行测试后的段末温度； 基于所述温度变化趋势和所述预设持续时长预测段末温度；所述段末温度是基于所述测试电流值持续测试所述预设持续时长后所述压接处的温度； 基于预测的段末温度对所述工况文件进行合理性校验。
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