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龙图腾网获悉清华大学申请的专利半导体器件的性能特性分析方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121117382B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511648829.7，技术领域涉及：G06F17/11；该发明授权半导体器件的性能特性分析方法、装置、设备及存储介质是由庄池杰;刘志成;石清元;曾嵘设计研发完成，并于2025-11-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体器件的性能特性分析方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种半导体器件的性能特性分析方法、装置、设备及存储介质，涉及集成电路技术领域。方法包括：构建待测半导体器件在稳态下的控制方程组，并确定控制方程组的边界条件；控制方程组至少包括泊松方程和载流子连续性方程；对待测半导体器件的计算域进行对偶有限体积网格划分，生成主网格和对偶网格，并生成菱形网格；基于菱形网格，定义生成离散梯度算子和离散散度算子；基于SG格式，结合离散梯度算子和离散散度算子，将控制方程组转换为非线性离散方程组；在边界条件下，对非线性离散方程组进行迭代求解。本申请实施例能够改善相关技术进行仿真分析时对高质量网格的依赖性过高的问题，在非结构化、低质量网格上实现高精度稳定求解。

本发明授权半导体器件的性能特性分析方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件的性能特性分析方法，其特征在于，所述半导体器件的性能特性分析方法包括： 构建待测半导体器件在稳态下的控制方程组，并确定所述控制方程组的边界条件；所述控制方程组至少包括泊松方程和载流子连续性方程； 对待测半导体器件的计算域进行对偶有限体积网格划分，生成主网格和对偶网格，并基于主网格和对偶网格生成菱形网格； 基于所述菱形网格，定义生成离散梯度算子和离散散度算子； 基于SG格式，结合所述离散梯度算子和所述离散散度算子，将所述控制方程组转换为非线性离散方程组； 在所述边界条件下，对所述非线性离散方程组进行迭代求解，得到所述待测半导体器件运行时的物理量参数； 其中，所述对偶网格包括对偶网格的内部单元和对偶网格的边界单元；所述对待测半导体器件的计算域进行对偶有限体积网格划分，生成主网格和对偶网格，包括： 基于待测半导体器件的物理结构，确定所述待测半导体器件的计算域； 将所述计算域划分为多个主网格单元；所述主网格单元为多边形； 针对多个主网格单元中的每个内部顶点，将所述内部顶点对应的所有主网格的中心点依次连接，形成对偶网格的内部单元； 针对多个主网格单元中的每个边界顶点，将所述边界顶点对应的所有主网格的中心点与所述边界顶点所在的边界线段的中心点依次连接，形成对偶网格的边界单元； 所述基于主网格和对偶网格生成菱形网格，包括： 针对所述多个主网格单元中的每一条主网格边，确定所述主网格边对应的两个主网格单元的中心点，作为对偶网格边的两个顶点； 基于所述主网格边及其对应的对偶网格边，生成对应的菱形网格单元； 其中，所述基于所述菱形网格，定义生成离散梯度算子和离散散度算子，还包括： 针对所述控制方程组中的每个物理量参数，分别在主网格和对偶网格的顶点设置标量未知量，并在菱形网格的内部设置矢量未知量；其中，所述标量未知量在对应顶点的控制体积内为常值，所述矢量未知量在对应的菱形网格内为常值； 基于所述标量未知量到所述矢量未知量的映射，定义生成离散梯度算子； 基于所述矢量未知量到所述标量未知量的映射，定义生成离散散度算子。

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