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龙图腾网获悉广东惠伦晶体科技股份有限公司申请的专利一种石英晶体谐振器的生产缺陷诊断方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120930019B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511061839.0，技术领域涉及：G06F18/2433；该发明授权一种石英晶体谐振器的生产缺陷诊断方法及系统是由刘峰;邢越;潘毅华设计研发完成，并于2025-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种石英晶体谐振器的生产缺陷诊断方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及缺陷诊断技术领域，尤其涉及一种石英晶体谐振器的生产缺陷诊断方法及系统。该方法包括以下步骤：基于超声激励与响应监测装置提取各加工阶段的微声响应信号，进行声学时频结构解析及响应轨迹趋势分析并提取，以得到多阶段晶体声纹行为轨迹序列；部署多角度结构光干涉仪阵列进行声学监测同步视觉采集，进行光纹形态响应偏差计算，提取光纹形态响应偏差段；对多阶段晶体声纹行为轨迹序列及光纹形态响应偏差段进行声‑光行为频率响应分析，并进行声光错配指标拟合，构建声光融合特征偏差数据库。本发明通过精准、高效的缺陷诊断及定位，提升石英晶体谐振器生产良率，减少生产线浪费与能耗。

本发明授权一种石英晶体谐振器的生产缺陷诊断方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种石英晶体谐振器的生产缺陷诊断方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1：基于超声激励与响应监测装置提取各加工阶段的微声响应信号，进行声学时频结构解析及响应轨迹趋势分析并提取，以得到多阶段晶体声纹行为轨迹序列；具体为：识别石英晶体谐振器生产线加工流程，标记关键加工设备； 基于超声激励与响应监测装置对所述关键加工设备进行实时声学振动监测，提取各加工阶段的微声响应信号； 对所述微声响应信号进行环境噪音自适应滤波处理，以生成滤波优化响应信号；具体为：对所述微声响应信号进行非周期性机械声识别，标记生产环境机械噪音； 对所述生产环境机械噪音进行噪音源定位，标记多个噪音源位置点； 对多个噪音源位置点进行空间噪音分布识别，构建生产环境噪音源分布图； 根据所述生产环境噪音源分布图分析传播时间延迟、相位漂移、能量增益曲率，以得到环境噪音信号多维度特征； 根据环境噪音信号多维度特征进行自适应滤波优化，以生成滤波优化响应信号； 对滤波优化响应信号进行声学时频结构解析，以生成多个加工阶段的时频响应特征； 获取设备加工指令，基于所述设备加工指令进行时序段划分，生成晶体加工阶段划分图谱； 基于晶体加工阶段划分图谱对所述时频响应特征进行声学行为响应轨迹趋势分析并提取，以得到多阶段晶体声纹行为轨迹序列； 步骤S2：部署多角度结构光干涉仪阵列进行声学监测同步视觉采集，进行光纹形态响应偏差计算，提取光纹形态响应偏差段； 步骤S3：对多阶段晶体声纹行为轨迹序列及光纹形态响应偏差段进行声‑光行为频率响应分析，并进行声光错配指标拟合，构建声光融合特征偏差数据库；具体为：对多阶段晶体声纹行为轨迹序列及光纹形态响应偏差段进行时序同步及空间映射，建立晶体生产声光联合图谱； 对晶体生产声光联合图谱进行声‑光行为频率响应分析，以得到声‑光行为时间偏移特征； 基于晶体生产声光联合图谱分析相位偏移、图谱形态，以得到频谱中心漂移及图像干涉峰错位； 对声‑光行为时间偏移特征、频谱中心漂移及图像干涉峰错位进行声光错配指标拟合，构建声光融合特征偏差数据库； 步骤S4：基于声光融合特征偏差数据库进行三维缺陷点位置定位，并进行声反射形态与光干涉形貌联合分析，以得到缺陷点类型特征； 步骤S5：基于缺陷点类型特征进行时序偏差时序分析，并进行时序偏差态势演变分析，以生成结构偏差趋势曲线与预期电性能指标漂移值； 步骤S6：基于结构偏差趋势曲线与预期电性能指标漂移值进行性能影响诊断，并进行生产线迭代闭环控制优化，以执行生产缺陷诊断作业。

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