华中科技大学余文勇获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种基于双目孔探相机的工件表面缺陷面积测量方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118781058B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410769630.9,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种基于双目孔探相机的工件表面缺陷面积测量方法及装置是由余文勇;秦海波;李逸航;王英杰设计研发完成,并于2024-06-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于双目孔探相机的工件表面缺陷面积测量方法及装置在说明书摘要公布了:本发明提供一种基于双目孔探相机的工件表面缺陷面积测量方法及装置,属于缺陷检测技术领域。缺陷面积测量方法包括:S1,通过双目孔探相机采集待检测工件的图像,得到深度图和RGB图像;S2,通过深度学习图像分割网络对所述RGB图像进行缺陷识别,得到缺陷掩模图;S3,对所述深度图进行滤波,得到预处理深度图;S4,将所述缺陷掩模图的缺陷区域分割为若干个三角形,结合所述预处理深度图的深度值,得到每个三角形的面积,然后累加得到缺陷区域的总面积。本发明基于缺陷的掩膜信息和深度信息相关数据,通过有限元的分析方法能够计算得到缺陷的面积,适用于发动机内部、管道内部、腔体类工件内部的检测。
本发明授权一种基于双目孔探相机的工件表面缺陷面积测量方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种基于双目孔探相机的工件表面缺陷面积测量方法,其特征在于,包括以下步骤: S1,通过双目孔探相机采集待检测工件的图像,得到深度图和RGB图像; S2,通过深度学习图像分割网络对所述RGB图像进行缺陷识别,得到缺陷掩模图;对所述深度图进行滤波,得到预处理深度图; S3,将所述缺陷掩模图的缺陷区域分割为若干个三角形,结合所述预处理深度图的深度值,得到每个三角形的面积,然后累加得到缺陷区域的总面积; 缺陷区域的分割方法包括:先根据预处理深度图的深度信息,对缺陷掩模图进行初步区域分割,得到区域Q1,Q2,…,Qs,s为正整数,表示第s个区域;初步区域分割的标准是:以缺陷掩膜图像点和缺陷区域外正常区域一个参考点深度值的差值为衡量标准,将各点的深度值差值相同的连续区域作为区域Q1,进行该区域面积计算时,每个三角形涵盖8~20个像素点;将各点深度值差值大于0小于等于1mm的连续区域作为区域Q2,进行该区域面积计算时,每个三角形涵盖5~10个像素点;将深度值差值大于1小于等于2mm的连续区域作为区域Q3,每个三角形涵盖2~5个像素点;当深度值差值大于2mm时的连续区域为区域Q4,每个三角形涵盖1~2个像素点。
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