中国科学院福建物质结构研究所何超获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院福建物质结构研究所申请的专利一种基于光学特性的铁电晶体的三维定向方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116593401B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310582894.9，技术领域涉及：G01N21/21；该发明授权一种基于光学特性的铁电晶体的三维定向方法是由何超;张文杰;苏榕冰;王祖建;杨晓明设计研发完成，并于2023-05-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于光学特性的铁电晶体的三维定向方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于光学特性的铁电晶体的三维定向方法。方法为：获取测试晶片切割面最强衍射峰代表的晶面指数h11k11l11；采用X射线定向仪获取h11k11l11晶面与测试晶片的切割面之间的偏角，获得晶面指数为h11k11l11的切割面；对h11k11l11晶面进行抛光，采用正交偏光显微镜观察抛光晶片的消光现象，确定抛光晶片自发极化在h11k11l11晶面投影的方向；利用自发极化在h11k11l11投影方向确定另一晶面h22k22l22和h11k11l11的交线方向[uvw]；利用晶面h11k11l11和两晶面的交线方向[uvw]，获取晶体的三维方向。解决了没有劳厄晶体定向仪也能准确的对铁电晶体进行三维定向。
本发明授权一种基于光学特性的铁电晶体的三维定向方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光学特性的铁电晶体的三维定向方法，其特征在于，包括以下步骤： 1从待测铁电晶体上切割测试晶片； 2获取所述测试晶片切割面的X射线衍射图谱，确定测试晶片的X射线衍射图谱中最强衍射峰代表的晶面指数h1k1l1； 3采用X射线定向仪获取h1k1l1晶面与所述测试晶片的切割面之间的偏角，对所述切割面进行修正，获得晶面指数为h1k1l1的切割面； 4对h1k1l1晶面进行抛光至厚度≤200μm，采用正交偏光显微镜观察抛光晶片的消光现象，确定抛光晶片自发极化在h1k1l1晶面投影的方向； 5利用自发极化在h1k1l1投影方向确定另一晶面h2k2l2和h1k1l1的交线方向[uvw]； 6利用晶面h1k1l1和两晶面的交线方向[uvw]，获取晶体的三维方向。
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