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龙图腾网获悉中国科学院空天信息创新研究院申请的专利一种推扫型高光谱成像仪的畸变校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116228558B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211676943.7，技术领域涉及：G06T5/80；该发明授权一种推扫型高光谱成像仪的畸变校正方法是由杨雷;周锦松;聂博洋;黄旻;景娟娟;魏立冬;李雅灿;王占超;何晓英;冯蕾;钱路路设计研发完成，并于2022-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种推扫型高光谱成像仪的畸变校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种推扫型高光谱成像仪的畸变校正方法，首先通过推扫型高光谱成像仪对特定的且能识别的目标进行推扫成像，获得推扫图像；通过角点识别算法获得所述推扫图像上各畸变点的坐标；在沿推扫方向采用基于直线特征的方法获得畸变校正参数；在垂直推扫方向采用交比不变性的方法获得畸变校正参数；根据所得到的畸变校正参数，结合图像灰度校正对所述推扫图像进行校正。上述方法相比传统的畸变校正方法，具有简便高效、适用范围广的优点，对于畸变有很好的校正效果。

本发明授权一种推扫型高光谱成像仪的畸变校正方法在权利要求书中公布了：1.一种推扫型高光谱成像仪的畸变校正方法，其特征在于，所述方法包括： 步骤1、通过推扫型高光谱成像仪对特定的且能识别的目标进行推扫成像，获得推扫图像； 步骤2、通过角点识别算法获得所述推扫图像上各畸变点的坐标； 步骤3、在沿推扫方向采用基于直线特征的方法获得畸变校正参数； 在步骤3中，由于推扫型高光谱成像仪采用推扫成像，故沿推扫方向的畸变是重复的，而不像面阵探测器是有固定的畸变中心，因此采用基于多项式模型的畸变校正函数表示； 通过畸变校正函数使得曲线上的点都映射到直线上，将带畸变的曲线上的所有畸变点都映射为无畸变点，这些无畸变点都在一条直线上；再通过拟合直线获得多项式模型的各个参数，从而获得沿推扫方向的畸变校正参数； 步骤4、在垂直推扫方向采用交比不变性的方法获得畸变校正参数； 在步骤4中，在垂直推扫方向上的畸变采用径向畸变模型表示，即通过径向畸变模型将畸变点映射为无畸变点；根据交比不变特性计算出径向畸变模型中的相关参数，从而获得垂直推扫方向上的畸变校正参数； 步骤5、根据步骤3得到的沿推扫方向的畸变校正参数以及步骤4得到的垂直推扫方向上的畸变校正参数，结合图像灰度校正对所述推扫图像进行校正。

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