深圳中微电科技有限公司李刚获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳中微电科技有限公司申请的专利一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116137030B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310182432.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质是由李刚;刘永刚;羯祥;荣耀程设计研发完成，并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质，具体包括：分别给出了在非MSAA场景下和在MSAA场景下用于虚线mask计算的像素计数方案，本发明计算方式简单，降低了mask计算复杂度，利于硬件实现，并且节省计算时延并降低功耗，同时解决现有方案在MSAA场景下的问题和缺陷。
本发明授权一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种用于虚线mask计算的像素计数方法，其特征在于，所述方法包括： 针对线段的两个顶点x0，y0，x1，y1： 在非MSAA场景下，若线段斜率小于1，线段上任意像素坐标x，y的counter=x0x1?x0‑x:x‑x0；若线段斜率大于1，线段上任意像素坐标x，y的counter=y0y1?y0‑y: y‑y0； 在MSAA场景下，令通过线段的顶点所在x坐标x0并且与绘制虚线垂直的直线方程为Ax+By+C=0，其中A、B、C为直线方程的参数，线段上任意像素坐标x，y的。
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