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龙图腾网获悉中国科学院地质与地球物理研究所申请的专利一种激光微区锡石样品铪同位素测定的校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116124870B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211638798.3，技术领域涉及：G01N27/626；该发明授权一种激光微区锡石样品铪同位素测定的校正方法是由杨岳衡;杨明;吴石头;黄超;谢烈文设计研发完成，并于2022-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种激光微区锡石样品铪同位素测定的校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种激光微区锡石样品铪同位素测定的校正方法，包括：将第一锡石标准物质排成第一排、第二锡石标准物质排成第二排、锡石样品排成第三排，分别都嵌入到同一环氧树脂中，从而制成样品靶；在第一时间，获得第一检测信号；在第二时间，获得第二检测信号；在第三时间，获得第三检测信号；根据第一检测信号来获得第一锡石标准物质中的初始铪同位素，根据第二检测信号来获得第二锡石标准物质中的初始铪同位素，根据第三检测信号来获得锡石样品中的初始铪同位素；以及利用第一锡石标准物质中的初始铪同位素、第二锡石标准物质中的初始铪同位素来校正锡石样品中的初始铪同位素，以便获得锡石样品中初始铪同位素测定的校正结果。

本发明授权一种激光微区锡石样品铪同位素测定的校正方法在权利要求书中公布了：1.一种激光微区锡石样品铪同位素测定的校正方法，其特征在于，包括： 将颗粒状的第一锡石标准物质排成第一排、颗粒状的第二锡石标准物质排成第二排、颗粒状的锡石样品排成第三排，分别都嵌入到同一环氧树脂中，从而制成直径为1英寸~2英寸的样品靶，并将所述样品靶放入激光剥蚀池样品腔中； 在第一时间，采用准分子激光源并以平行光方式聚焦至所述样品靶上的所述第一锡石标准物质进行激光微区剥蚀，以便产生所述第一锡石标准物质的气溶胶颗粒；其中，所述第一锡石标准物质的气溶胶颗粒经过多接收电感耦合等离子体质谱仪中的电场和磁场，以实现角度和速度双聚焦并到达离子信号检测系统，从而获得第一检测信号； 在第二时间，采用准分子激光源并以平行光方式聚焦至所述样品靶上的所述第二锡石标准物质进行激光微区剥蚀，以便产生所述第二锡石标准物质的气溶胶颗粒；其中，所述第二锡石标准物质的气溶胶颗粒经过多接收电感耦合等离子体质谱仪中的电场和磁场，以实现角度和速度双聚焦并到达离子信号检测系统，从而获得第二检测信号； 在第三时间，采用准分子激光源并以平行光方式聚焦至所述样品靶上的所述锡石样品进行激光微区剥蚀，以便产生所述锡石样品的气溶胶颗粒；其中，所述锡石样品的气溶胶颗粒经过多接收电感耦合等离子体质谱仪中的电场和磁场，以实现角度和速度双聚焦并到达离子信号检测系统，从而获得第三检测信号； 根据所述第一检测信号来获得所述第一锡石标准物质中的初始铪同位素，根据所述第二检测信号来获得所述第二锡石标准物质中的初始铪同位素，根据所述第三检测信号来获得所述锡石样品中的初始铪同位素；以及利用所述第一锡石标准物质中的初始铪同位素、所述第二锡石标准物质中的初始铪同位素来校正所述锡石样品中的初始铪同位素，以便获得所述锡石样品中初始铪同位素测定的校正结果； 其中，所述利用所述第一锡石标准物质中的初始铪同位素、所述第二锡石标准物质中的初始铪同位素来校正所述锡石样品中的初始铪同位素，以便获得所述锡石样品中初始铪同位素测定的校正结果，包括： 对多次测量获得到的所述第一锡石标准物质中的初始铪同位素进行线性拟合，以获得第一校正系数K1；并对多次测量获得到的所述第二锡石标准物质中的初始铪同位素进行线性拟合，以获得第二校正系数K2；以及将所述第一校正系数K1与所述第二校正系数K2求平均值，并将所述锡石样品中的初始铪同位素乘以所述平均值，以获得所述锡石样品中初始铪同位素测定的校正结果； 其中，所述第一锡石标准物质为已知初始铪同位素比值的的锡石主要标准物质Rond‑A，所述第二锡石标准物质为已知初始铪同位素比值的的锡石监控标准物质BB#7；所述锡石主要标准物质Rond‑A的初始铪同位素比值为0.28217 ± 0.00003；所述锡石监控标准物质BB#7的初始铪同位素比值为0.28189 ± 0.00003。

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