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龙图腾网获悉东莞利扬芯片测试有限公司申请的专利测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116008781B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310025134.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质是由李双成;马海龙;陈勇;范传敏;袁俊;辜诗涛设计研发完成，并于2023-01-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法为获取待测芯片的身份信息，并根据身份信息调取对应的测试参数；将调取的测试参数写入测试分选机的共享文件中；读取共享文件中的测试参数；比对读取的测试参数与调取的测试参数，若读取的测试参数与调取的测试参数一致，则生成驱动文件并将驱动文件发送至测试分选机，以使测试分选机使用驱动文件调用测试程序，若读取的测试参数与调取的测试参数不一致，则重复执行前述步骤。本发明能够根据不同的芯片将对应的测试参数写入测试分选机，并检测写入的测试参数是否正确，有效地防止测试出现异常并减少人工参与设置，有利于提升芯片的品质和测试的效率。

本发明授权测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种测试分选机测试参数写入及防呆方法，其特征在于，包括如下步骤： S100、获取待测芯片的身份信息，并根据身份信息调取对应的测试参数； S101、将调取的测试参数写入测试分选机的共享文件中； S102、读取所述共享文件中的测试参数； S103、比对读取的测试参数与调取的测试参数，若读取的测试参数与调取的测试参数一致，则执行步骤S104，若读取的测试参数与调取的测试参数不一致，则重复步骤S100至S103； S104、生成驱动文件并将所述驱动文件发送至所述测试分选机，以使所述测试分选机使用所述驱动文件调用测试程序； 步骤S104之后包括： S105、在设定时间后再次读取所述共享文件中的测试参数； S106、比对再次读取的测试参数与调取的测试参数，若再次读取的测试参数与调取的测试参数不一致，则执行步骤S107，若再次读取的测试参数与调取的测试参数一致，则执行步骤S108； S107、清除所述测试分选机中的所述驱动文件； S108、判断一个批次的待测芯片是否测试完成，若测试未完成，则返回步骤S105和S106。

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