微盟电子(昆山)有限公司王文彦获国家专利权
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龙图腾网获悉微盟电子(昆山)有限公司申请的专利天线测试方法及其系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116008675B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111452000.1，技术领域涉及：G01R29/10；该发明授权天线测试方法及其系统是由王文彦;江正雄设计研发完成，并于2021-12-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本天线测试方法及其系统在说明书摘要公布了：本发明提出一种天线测试方法及其系统。天线测试方法包含基于一二维坐标系统，建立一待测装置中至少一噪声元件的一位置参数；测量来自待测装置的辐射信号，以产生一三维增益信息，其中三维增益信息包含多个三维坐标参数；转换多个三维坐标参数为在二维坐标系统下的多个二维坐标参数及多个增益参数，且多个二维坐标参数分别与多个增益参数相对应；根据多个二维坐标参数及多个增益参数，产生一增益变化图；匹配位置参数于增益变化图，以获得分别对应于至少一噪声元件的一噪声干扰程度；及根据噪声干扰程度，判断待测装置是否为一辐射不良装置。
本发明授权天线测试方法及其系统在权利要求书中公布了：1.一种天线测试方法，包含： 基于一二维坐标系统，依据一待测装置中至少一噪声元件在该二维坐标系统中的位置，建立该待测装置中该至少一噪声元件的一位置参数，其中该待测装置为具有用以发出辐射信号的天线的装置； 测量来自该待测装置的一辐射信号，以产生一三维增益信息，其中该三维增益信息包含多个三维坐标参数； 转换多个所述三维坐标参数为在该二维坐标系统下的多个二维坐标参数及多个增益参数，且多个所述二维坐标参数分别与多个所述增益参数相对应； 根据多个所述二维坐标参数及多个所述增益参数，产生一增益变化图； 匹配该位置参数于该增益变化图，以获得分别对应于该至少一噪声元件的一噪声干扰程度；及根据该噪声干扰程度，判断该待测装置是否为一辐射不良装置。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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