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龙图腾网获悉华质卓越生产力促进(北京)有限公司申请的专利一种铜键合线塑封元器件开封试验方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115902456B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211298104.6，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种铜键合线塑封元器件开封试验方法是由刘郡;路浩天;李敏伟;张哲瑞;徐鹏超;马妍设计研发完成，并于2022-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种铜键合线塑封元器件开封试验方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种铜键合线塑封元器件开封试验方法，其包括以下步骤：S1、进行试验准备工作；S2、开封试验；S3、待酸液溶解一段时间后，将底座和元器件清洗后烘干，观察内部芯片和键合线是否完全暴露，判定开封结果是否满足试验结果要求，若满足要求则试验结束，若不满足要求则重复步骤S2；S4、利用监控装置对试验过程进行监控：试验过程中通过监控电路是否有异常判定试验结果有效。本发明方法结合传统滴酸方法的优点，步骤简单易操作，增加了应用阴极保护原理制作的保护装置，驱动装置等辅助装置，有效保持了器件开封后引线框架的完整性，便于后续观察分析工作，增加了监控装置规避了试验过程带来失效的风险，保证了试验结果的准确性。

本发明授权一种铜键合线塑封元器件开封试验方法在权利要求书中公布了：1.一种铜键合线塑封元器件开封试验方法，其特征在于：其包括以下步骤： S1、进行试验准备工作，具体包括以下子步骤： S11、将酸液装入滴酸装置中； S12、将元器件安装在底座装置打磨光滑的铜板上面并将元器件的每一个引脚均固定在铜板上，使各引脚间形成等电位； S13、打开并调试电源输出稳定电流至信号驱动电路，使信号驱动电路输出电位差； S14、将信号驱动电路第一端连接至保护碳针，信号驱动电路第二端连接至铜板； S15、将监控电路的两端分别连接铜板和信号驱动电路第一端； S2、进行开封试验，具体包括以下子步骤： S21、将带有元器件的底座放置在加热台上，调整加热温度，加热待开封的塑封裝元器件至预设温度； S22、将滴酸装置出酸口对准元器件待开封处，打开开关，按压胶头气囊滴落数滴酸液，去除元器件待开封处周围的塑封体；同时将保护碳针放入酸液液面下； S23、持续用可视放大装置观察并确保保护碳针处于酸液面下； S3、待酸液溶解一段时间后，将底座和元器件清洗后烘干，观察内部芯片和键合线是否完全暴露，判定开封结果是否满足试验结果要求，若满足要求则试验结束，若不满足要求则重复步骤S2； S4、利用监控装置的监控电路对试验过程进行监控：试验过程中通过监控电路是否有异常判定试验结果是否有效，若监控电路反馈异常则为保护碳针在试验中与某根键合线接触，引发器件的失效，判定本次试验失败；若监控电路始终无异常显示，则判定试验结果有效。

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