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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种多角度快速调节光学元件的装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115638740B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110814174.1，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权一种多角度快速调节光学元件的装置及方法是由于杰;邱宏伟;金春水设计研发完成，并于2021-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多角度快速调节光学元件的装置及方法在说明书摘要公布了：一种多角度快速调节光学元件的装置，该装置包括激光干涉仪、干涉仪标准镜头、零位补偿镜和第一调整机构；第一调整机构上安装有旋转转台，旋转转台安装有第二调整机构，第二调整机构上还安装有第三调整及检测支撑平台，被检光学元件置于第三调整及检测支撑平台上，本发明是通过灵敏度矩阵可以快速计算各调整机构的调整量，从而快速地调整各调整机构以及被检光学的空间位置，大大节省了调整时间，也降低调整难度，通过泽尼克第二、三、七、八项的系数会使得调整的精度更高。

本发明授权一种多角度快速调节光学元件的装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种多角度快速调节光学元件的方法，其特征在于，包括多角度快速调节光学元件的装置，该装置包括激光干涉仪、干涉仪标准镜头、零位补偿镜和第一调整机构； 所述第一调整机构上安装有旋转转台，所述旋转转台安装有第二调整机构，所述第二调整机构上还安装有第三调整及检测支撑平台，被检光学元件置于所述第三调整及检测支撑平台上；该方法包括以下步骤： S1：利用第三调整机构和第一调整机构调整被检光学元件，使得转动旋转转台时干涉仪监视器上的光点不动； S2：建立第一调整机构、第二调整机构关于泽尼克第二项、第三项以及第七项、第八项慧差项系数的灵敏度矩阵； S3：利用干涉仪检测被检光学元件，记录此时原始倾斜及慧差项系数二项、第三项、第七项和第八项； S4：将转台旋转180°，对被检光学元件再次进行检测，记录此时旋转后的倾斜及慧差项系数第一项、第二项、第七项和第八项； S5：利用灵敏度矩阵计算调整量并通过第二调整机构调整被检光学元件，计算出第一项、第二项、第七项和第八项的值调； S6：重复S3至S5，直至第一项、第二项、第七项和第八项系数在转动转台时不变； S7：利用第一调整机构将第一项、第二项、第七项和第八项系数调为零，此时，干涉仪光轴、被检光学元件光轴、转台转轴以及第一调整机构中心轴空间位置一致，被检光学元件调整到位。

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