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中国科学院武汉岩土力学研究所王益腾获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院武汉岩土力学研究所申请的专利钻孔孔壁粗糙度测量系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114993237B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210530622.X,技术领域涉及:G01B21/30;该发明授权钻孔孔壁粗糙度测量系统及方法是由王益腾;陈双源;韩增强;汪进超;王超;魏幸雅;李姝慧;张朝楗设计研发完成,并于2022-05-16向国家知识产权局提交的专利申请。

钻孔孔壁粗糙度测量系统及方法在说明书摘要公布了:本发明公开一种钻孔孔壁粗糙度测量系统及方法。所述方法包括:创建一般椭圆柱面拟合方程,并且所述一般椭圆柱面拟合方程创建拟合基准面;配置所述拟合基准面在钻孔孔壁坐标系;沿所述拟合基准面展开所述钻孔孔壁坐标系,以获得所述拟合基准面的展开平面;获取所述展开平面平行钻孔轴线的若干个轴向取样线;获取与所述轴向取样线对应的孔壁轴向剖面线;获取所述孔壁轴向剖面线的轴向粗糙度评定参数。

本发明授权钻孔孔壁粗糙度测量系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种钻孔孔壁粗糙度测量方法,其特征在于,所述方法包括: 创建一般椭圆柱面拟合方程,并且所述一般椭圆柱面拟合方程创建拟合基准面; 配置所述拟合基准面在钻孔孔壁坐标系; 沿所述拟合基准面展开所述钻孔孔壁坐标系,以获得所述拟合基准面的展开平面; 获取所述展开平面平行钻孔轴线的若干个轴向取样线; 获取所述展开平面垂直钻孔轴线的若干个周向取样线; 获取与所述轴向取样线对应的孔壁轴向剖面线; 获取与所述周向取样线对应的孔壁周向剖面线; 获取所述孔壁轴向剖面线的轴向粗糙度评定参数; 获取所述孔壁周向剖面线的周向粗糙度评定参数; 其中,创建所述钻孔孔壁坐标系配置为,获取钻孔孔壁的孔壁投影点在当前水平高度的至少两个孔壁投影点; 创建第一极坐标系,根据测量装置的参数及至少两个孔壁投影点解算孔壁成像点在第一极坐标系的第一空间位置; 创建钻孔孔壁的第二极坐标,根据所述测量装置与钻孔空间的位置关系建立所述第一极坐标及第二极坐标的坐标转换关系,根据所述第一空间位置及坐标转换关系,获取孔壁成像点在所述第二极坐标中的第二空间位置,根据至少两个连续所述水平高度的所述孔壁成像点的所述第二空间位置获取所述钻孔孔壁坐标系。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院武汉岩土力学研究所,其通讯地址为:430000 湖北省武汉市武昌区水果湖街小洪山2号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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