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龙图腾网获悉深圳市紫光同创电子有限公司申请的专利读写校准方法和电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114171106B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111276688.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权读写校准方法和电路是由刘兴宗;彭祥吉设计研发完成，并于2021-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本读写校准方法和电路在说明书摘要公布了：本申请提出一种读写校准方法和电路，该方法包括：根据读写一致性数据对工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，第一相位为提供给所述存储控制器的第一时钟信号的相位；当验证通过时，将第一相位与第二相位的相位差作为候选相位差，其中，第二相位为提供给所述存储模块的第二时钟信号的相位；按照预设规则从候选相位差中选取一目标相位差，对存储控制器的第一时钟信号进行调节，使存储控制器工作在目标相位差对应的第一相位下。本申请通过自动调节第一相位与第二相位的相位差以验证不同第一相位下存储控制器的读写准确性，以找出最优相位差，以对存储控制器的读写准确性进行自动校准，保证读写数据的正确性。

本发明授权读写校准方法和电路在权利要求书中公布了：1.一种读写校准方法，应用于校准模块，所述校准模块与存储控制器连接，其特征在于，所述方法包括： 根据读写一致性数据对工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，所述读写一致性数据包括：工作于所述第一相位下从存储模块的同一个存储地址读出的数据与写入的数据是否相同，其中，所述第一相位为提供给所述存储控制器的第一时钟信号的相位； 所述根据读写一致性数据对验证工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，包括： 针对当前第一相位，控制存储控制器在当前第一相位下向工作于第二相位下的存储模块的任一可用地址写入数据； 控制存储控制器在所述当前第一相位下从工作于所述第二相位下的存储模块的所述可用地址读取数据； 比较所述存储控制器在所述当前第一相位下写入的数据与读出的数据是否相同； 对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性验证的验证次数进行累加； 若所述存储控制器在所述当前第一相位下写入的数据与读出的数据相同且累加的验证次数未达到预设验证次数，则循环执行所述控制存储控制器在当前第一相位下向工作于所述第二相位下的存储模块的任一可用地址写入数据的步骤至所述对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性验证的验证次数进行累加的步骤； 若所述存储控制器在所述当前第一相位下写入的数据与读出的数据相同且累加的验证次数达到所述预设验证次数，则结束对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性验证； 若所述存储控制器在所述当前第一相位下写入的数据与读取的数据不同，则结束对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性验证； 当工作于所述第一相位下的存储控制器的读写准确性验证通过时，将所述第一相位与所述存储模块所工作的第二相位的相位差作为候选相位差，其中，所述第二相位为提供给所述存储模块的第二时钟信号的相位； 按照预设规则从所述候选相位差中选取一目标相位差； 对所述存储控制器的第一时钟信号的第一相位进行调节，使所述存储控制器工作在所述目标相位差对应的第一相位下。

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