四川和恩泰半导体有限公司邓飞宇获国家专利权
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龙图腾网获悉四川和恩泰半导体有限公司申请的专利一种基于智能算力算法的电路封装测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120977891B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511483350.2，技术领域涉及：H10P74/00；该发明授权一种基于智能算力算法的电路封装测试系统及方法是由邓飞宇;王建全;何雪梅;李保霞;王悦聪;陈星宇;刘耀;罗昌海设计研发完成，并于2025-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于智能算力算法的电路封装测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于智能算力算法的电路封装测试系统及方法，涉及电路封装测试技术领域，该方法通过调取历史测试数据，筛选出含有异常数据的第一目标测试节点，并构建目标参数数据组；计算第一测试节点的平均异常频次和信号偏向比，并计算故障影响因子来确定第二目标测试节点；预测第二目标测试节点的故障风险概率，进而根据故障风险概率，对测试路径进行动态调控，对高风险测试节点进行优先测试；解决了传统固定测试流程适配性差、人力与时间成本高的问题，提升了电路封装测试效率。
本发明授权一种基于智能算力算法的电路封装测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于智能算力算法的电路封装测试方法，其特征在于：所述电路封装测试方法包括： 步骤S100：调取历史电路封装测试数据记录；对所述历史电路封装测试数据记录进行筛选，提取目标数据，设所述目标数据对应的测试节点为第一目标测试节点；依据所述目标数据，获取第一目标测试节点的目标参数数据组； 步骤S200：对所述目标参数数据组中的目标数据进行分析，计算第一目标测试节点的平均异常频次； 步骤S300：对所述第一目标测试节点的目标参数数据组进行分析，获取所述第一目标测试节点的信号偏向比； 步骤S400：根据第一目标测试节点的平均异常频次和信号偏向比，计算各第一目标测试节点的故障影响因子；将所有第一目标测试节点对应的故障影响因子进行整合分析，获取第二目标测试节点； 步骤S500：分别对所述第二目标测试节点进行故障风险概率预测；根据预测结果，对电路封装测试系统中的测试路径进行智能调控，获取动态测试路径。
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