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龙图腾网获悉中国科学院国家授时中心申请的专利一种测量原子喷泉二阶塞曼频移的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120909094B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511034826.4，技术领域涉及：G04F5/14；该发明授权一种测量原子喷泉二阶塞曼频移的方法是由施俊如;王心亮;刘丹丹;阮军;张首刚设计研发完成，并于2025-07-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量原子喷泉二阶塞曼频移的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测量原子喷泉二阶塞曼频移的方法，通过安装在铯原子喷泉钟上的测量装置获取外轴向磁场变化量，当外轴向磁场变化量未超过变化阈值，无需中断铯原子喷泉钟运行，根据磁场变化与屏蔽因子实现当前的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率的粗测，得到对应的二阶塞曼频移，当外轴向磁场变化量超过变化阈值，中断铯原子喷泉钟运行，利用磁敏Ramsey跃迁法实现当前的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率的精确测量，得到对应的二阶塞曼频移。本发明能够实时、快速、准确的测量二阶塞曼频移，对减小铯原子喷泉钟与国际原子时偏差，提高铯原子喷泉钟月运行率，提升铯原子喷泉钟在国际原子时标校中的地位有很大的帮助。

本发明授权一种测量原子喷泉二阶塞曼频移的方法在权利要求书中公布了：1.一种测量原子喷泉二阶塞曼频移的方法，其特征在于，包括： 在铯原子喷泉钟上安装测量装置，所述测量装置用于测量所述铯原子喷泉钟的磁屏蔽装置的外轴向磁场数据； 在所述铯原子喷泉钟的运行过程中，在预设的采样时间，根据获取的所述外轴向磁场数据确定所述磁屏蔽装置的外轴向磁场变化量，判断所述外轴向磁场变化量是否超过变化阈值； 若所述外轴向磁场变化量未超过所述变化阈值，则根据所述外轴向磁场变化量得到磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率移动量和当前的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率，根据当前的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率计算得到对应的二阶塞曼频移；其中，根据所述外轴向磁场变化量得到磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率移动量和当前的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率，包括： 根据所述外轴向磁场变化量计算得到所述磁屏蔽装置的内轴向磁场变化量，计算公式如下： ； 式中，为内轴向磁场变化量，为外轴向磁场变化量，为磁屏蔽装置的轴向屏蔽因子； 根据所述内轴向磁场变化量计算得到所述磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率移动量，计算公式如下： ； 式中，为磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率移动量； 根据所述中心频率移动量与前一次的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率，得到当前的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率； 若所述外轴向磁场变化量超过所述变化阈值，则中断所述铯原子喷泉钟的运行，利用磁敏Ramsey跃迁法测量当前的磁敏Ramsey跃迁条纹，对比当前的磁敏Ramsey跃迁条纹与前一次的磁敏Ramsey跃迁条纹，确定当前的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率，根据当前的磁敏Ramsey跃迁条纹的中心频率计算得到对应的二阶塞曼频移。

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