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龙图腾网获悉湖北蓝图纸业有限公司申请的专利一种检测纸张缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120765547B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510831759.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种检测纸张缺陷检测方法及系统是由尹大全;涂剑飞;尹桂鑫设计研发完成，并于2025-06-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种检测纸张缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明属于材料表面结构检测技术领域，提供了一种检测纸张缺陷检测方法及系统，通过光学测距传感器获取纸张表面各像素点的高度信息，进而构建高度分布图，并结合卷积差值、局部趋势与变化强度，分析纸张表面结构轮廓的起伏模式，通过对结构特征的曲线拟合与趋势聚类，能够有效地区分典型表面结构类型，如周期性波纹与非周期性褶皱，从而实现纸张表面微结构的自动识别与结构成因溯源分析，同时实现精确识别异常区域，提高系统在实际工业场景下的普适性与实用性。

本发明授权一种检测纸张缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种检测纸张缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： S100，获取待检测纸张图像中各个像素点对应的高度信息； S200，根据获取的高度信息筛选出异常像素点； S300，计算所有异常像素点的局部深度值； S400，根据局部深度值对像素点进行分类； S500，根据分类结果判断待检测纸张的缺陷情况； 在S300中，计算所有异常像素点的局部深度值的方法具体包括：在待检测纸张中遍历所有的异常像素点以及其对应的高度矩阵，将卷积运算结果大于零的像素点对应的高度矩阵添加到列表List1中，并按照运算结果的大小更新列表List1，将卷积运算结果小于零的像素点对应的高度矩阵添加到列表List2中，并按照运算结果的大小更新列表List2； 遍历列表List1，对List1中所有矩阵作求和平均，将平均矩阵作为List1当前的基准矩阵A，从第一个高度矩阵开始，计算当前矩阵与后一个相邻矩阵之间的矩阵差值，将差值结果作为当前矩阵与后一相邻矩阵之间的差值矩阵，将差值矩阵与基准矩阵做卷积运算，将运算结果记为当前像素点的局部深度值； 遍历列表List2，对List2中所有矩阵作求和平均，将平均矩阵作为List2当前的基准矩阵B，从第一个高度矩阵开始，计算当前矩阵与后一个相邻矩阵之间的矩阵差值，将差值结果作为当前矩阵与后一相邻矩阵之间的差值矩阵，将差值矩阵与基准矩阵做卷积运算，将运算结果记为当前像素点的局部深度值。

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