买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉武汉华路光学科技有限公司申请的专利一种安防摄像头镜片生产过程动态多参数过程监测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120655164B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510818792.1，技术领域涉及：G06Q10/0639；该发明授权一种安防摄像头镜片生产过程动态多参数过程监测方法是由刘洛彤;林增强设计研发完成，并于2025-06-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种安防摄像头镜片生产过程动态多参数过程监测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种安防摄像头镜片生产过程动态多参数过程监测方法，本发明涉及多参数过程监测技术领域。该方法的步骤包括：采集工艺参数与波纹度特征数据；收集安防摄像头镜片原材料的光学特性与物理响应数据；对数据离散化处理，按材料类型和性能生成原材料标准数据；收集实时抛光数据，计算得到抛光偏差因子向量；通过熵权法计算权重，得抛光报警修正指数，超阈值时报警并调节抛光参数，获修正几何特征数据；采集镀膜阶段数据，经双维度特征提取法得镀膜材料响应与加工环境数据，分别计算材料响应偏差指数、加工环境扰动指数；结合两类指数得镀膜工艺综合偏差指数。本发明根据镀膜工艺综合偏差指数，实时监测安防摄像头镜片生产过程。

本发明授权一种安防摄像头镜片生产过程动态多参数过程监测方法在权利要求书中公布了：1.一种安防摄像头镜片生产过程动态多参数过程监测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1：收集安防摄像头镜片原材料样本的光学特性数据和物理响应数据； 步骤S2：将所述光学特性数据和物理响应数据进行标准化处理后，按材料类型和性能分类，生成原材料标准数据； 步骤S3：收集实时抛光数据，所述实时抛光数据包含实时几何特征数据和实时抛光工艺参数，基于所述原材料标准数据与实时抛光数据，计算得到表面粗糙度偏差率、抛光压力偏差率和热应力偏差率，将所述表面粗糙度偏差率、抛光压力偏差率和热应力偏差率进行组合，得到抛光偏差因子向量； 步骤S4：通过熵权法对抛光偏差因子进行权重计算，得到抛光偏差因子权重，结合所述抛光偏差因子向量和抛光偏差因子权重，计算得到抛光报警修正指数，当抛光报警修正系数超出预设阈值时，立即触发报警并动态调节实时抛光工艺参数，得到修正后的几何特征数据； 步骤S5：采集镀膜阶段的镀膜阶段数据，通过双维度特征提取法对所述镀膜阶段数据进行特征提取，得到镀膜材料响应数据和镀膜加工环境数据，根据所述镀膜材料响应数据与原材料标准数据，计算得到材料响应偏差指数，根据镀膜加工环境数据和修正后的几何特征数据，计算得到加工环境扰动指数； 步骤S6：将所述材料响应偏差指数与加工环境扰动指数进行结合，计算得到镀膜工艺综合偏差指数，根据所述镀膜工艺综合偏差指数，对安防摄像头镜片生产过程进行实时监测。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉华路光学科技有限公司，其通讯地址为：430000 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区武大科技园武大园一路7号生产办公楼202室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。