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龙图腾网获悉江苏芯声微电子科技有限公司申请的专利一种MLCC切割前产品变形量测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120368918B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510588589.X，技术领域涉及：G01B21/32；该发明授权一种MLCC切割前产品变形量测量方法是由荆晶;黄绎伦;彭享鸿;郝涛设计研发完成，并于2025-05-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种MLCC切割前产品变形量测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及MLCC生产领域，具体涉及一种MLCC切割前产品变形量测量方法，所述测量方法包括以下步骤：获取切割后的巴块，形成巴块阵列，所述巴块阵列由M行N列的电容器生坯组成；在所述巴块阵列中选取M行中的m行电容器生坯，形成m行N列的过渡阵列，再在所述过渡阵列中选取N列中n列电容器生坯，形成m行n列的待测阵列；测量所述待测阵列中，每个电容器生坯的非有效电极部分的宽度；计算每个电容器生坯的中心值；在待测阵列中m行的每一行中，计算该行中各个电容器生坯的变形量，通过本方法更加符合实际的切割状况，模拟切割时产品的变形量，可以直观的反应了产品特性，并且数据化。

本发明授权一种MLCC切割前产品变形量测量方法在权利要求书中公布了：1.一种MLCC切割前产品变形量测量方法，其特征在于，所述测量方法包括以下步骤： 获取切割后的巴块，形成巴块阵列，所述巴块阵列由M行N列的电容器生坯组成； 在所述巴块阵列中选取M行中的m行电容器生坯，形成m行N列的过渡阵列，再在所述过渡阵列中选取N列中n列电容器生坯，形成m行n列的待测阵列； 测量所述待测阵列中，每个电容器生坯的非有效电极部分的宽度，记为产品的gap量，所述产品的gap量包括位于电极区上方的非有效电极部分的宽度和位于电极区下方的非有效电极部分的宽度，其中位于电极区上方的非有效电极部分的宽度记为产品的上gap量，位于电极区下方的非有效电极部分的宽度记为产品的下gap量； 由所述产品的上gap量和产品的下gap量，计算每个电容器生坯的中心值； 在待测阵列中m行的每一行中，以第一个电容器生坯的中心值和最后一个电容器生坯的中心值的平均值为基点，计算该行中，除第一个电容器生坯和最后一个电容器生坯外，各个电容器生坯的变形量； 所述测量所述待测阵列中，每个电容器生坯的非有效电极部分的宽度，包括以下步骤： 以待测阵列中每一行的行方向为横轴，每一列的总方向为纵轴； 以各横轴为旋转中心，使得待测阵列中每一行跟随对应的横轴同方向旋转90度；再以各纵轴为旋转中心，使得待测阵列中每一列跟随对应的纵轴同方向旋转90度；以使电容器生坯朝上的表面为切割面； 测量每个电容器切割面上非有效电极部分的宽度。

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