西安电子科技大学李轩获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种基于蒙特卡洛的透介质偏振三维重建方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119810331B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411980498.2,技术领域涉及:G06T17/00;该发明授权一种基于蒙特卡洛的透介质偏振三维重建方法是由李轩;郭高;邵晓鹏;鲁小龙;闫金轲;刘志强;薛振轩;蔡玉栋设计研发完成,并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于蒙特卡洛的透介质偏振三维重建方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种基于蒙特卡洛的透介质偏振三维重建方法,包括以下步骤:利用偏振蒙特卡洛数值模拟方法仿真得到出射光的斯托克斯矢量,获取面光源在散射介质中的穆勒矩阵和后向散射偏振度;利用面光源在散射介质中的穆勒矩阵获取目标物体表面反射光的斯托克斯矢量,恢复目标物体表面反射光的偏振信息;根据目标物体表面反射光的偏振信息计算法向量的天顶角和方位角;将后向散射偏振度和目标物体表面反射光的偏振信息融合至散射公式,获取目标物体的光强信息;利用目标物体的光强信息校正法向量,进行目标物体的三维重建。本发明解决了传统偏振三维技术偏振信息失真的问题,提高了偏振三维重建精度,扩大了三维重建技术的应用范围。
本发明授权一种基于蒙特卡洛的透介质偏振三维重建方法在权利要求书中公布了:1.一种基于蒙特卡洛的透介质偏振三维重建方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:根据目标物体的多张偏振图像,获取目标物体在散射体系中每一像素的斯托克斯信息; S2:利用偏振蒙特卡洛数值模拟方法仿真得到出射光的斯托克斯矢量,获取面光源在散射介质中的穆勒矩阵和后向散射偏振度; S3:利用所述面光源在散射介质中的穆勒矩阵获取目标物体表面反射光的斯托克斯矢量,恢复目标物体表面反射光的偏振信息; S4:根据所述目标物体表面反射光的偏振信息计算法向量的天顶角和方位角; S5:将所述后向散射偏振度和所述目标物体表面反射光的偏振信息融合至散射公式,获取目标物体的光强信息; S6:利用所述目标物体的光强信息校正法向量,进行目标物体的三维重建; 其中,所述步骤S3包括: S301:将面光源在散射介质中的穆勒矩阵代入斯托克斯矢量-穆勒矩阵数学关系,获取目标物体表面反射光的斯托克斯矢量: ; 其中,目标物体表面反射光的斯托克斯矢量,表示目标物体的斯托克斯矢量,表示未经过目标物体传输到传感器的斯托克斯矢量,表示散射后再经过目标物体辐射出的斯托克斯矢量,表示传感器接收到总的斯托克斯矢量,表示面光源在散射介质中的穆勒矩阵,表示入射光的斯托克斯矢量,为常数; S302:根据目标物体表面反射光的斯托克斯矢量计算目标偏振度和目标偏振角: ; ; 其中,、和为的分量。
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