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龙图腾网获悉深圳技术大学申请的专利一种基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119619932B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411801134.3，技术领域涉及：G01R33/032；该发明授权一种基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量方法是由钟健;李幸莹;孙豪正;杨增勇;苏兴华;谭东阳;曹磊峰;周沧涛;阮双琛设计研发完成，并于2024-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量方法。该方法包括以下步骤：构建劈尖装置，基于起偏器和检偏器的磁场测量法，并利用劈尖装置设置基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量装置；劈尖装置包括等厚的玻璃片和磁致旋光晶体；玻璃片和磁致旋光晶体的一端平行相接，玻璃片和磁致旋光晶体的另一端设置间隔细丝，以在玻璃片和磁致旋光晶体之间形成具有倾角的劈形空气薄膜；利用基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量装置获取劈尖干涉条纹的图像灰度值；基于劈尖干涉条纹的图像灰度值，利用磁致旋光效应原理计算磁场强度。本发明能精准地测量小范围内磁场的细微变化，并且在测量过程中各部件易组合且光路易于搭建，缩短了测量时间。

本发明授权一种基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、构建劈尖装置，基于起偏器和检偏器的磁场测量法，并利用劈尖装置设置基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量装置； 劈尖装置包括等厚的玻璃片和磁致旋光晶体；玻璃片和磁致旋光晶体的一端平行相接，玻璃片和磁致旋光晶体的另一端设置间隔细丝，以在玻璃片和磁致旋光晶体之间形成具有倾角的劈形空气薄膜； S2、利用步骤S1中基于磁致旋光效应和图像分析的磁场测量装置获取劈尖干涉条纹的图像灰度值； S3、基于步骤S2中劈尖干涉条纹的图像灰度值，利用磁致旋光效应原理计算磁场强度； 在步骤S2中，劈尖干涉条纹的图像灰度值包括电磁铁未通电时第一设定检测角度劈尖干涉条纹的图像灰度值、电磁铁未通电时第二设定检测角度劈尖干涉条纹的图像灰度值和电磁铁通电时第二设定检测角度劈尖干涉条纹的图像灰度值； 步骤S3包括以下步骤： S31、基于步骤S2中劈尖干涉条纹的图像灰度值，计算磁致旋光晶体产生的旋光角； S32、基于步骤S31中磁致旋光晶体产生的旋光角，利用磁致旋光效应原理计算磁场强度； 基于步骤S2中劈尖干涉条纹的图像灰度值，计算磁致旋光晶体产生的旋光角，表示为： 其中：为磁致旋光晶体产生的旋光角，为电磁铁通电时第二设定检测角度劈尖干涉条纹的图像灰度值，为电磁铁未通电时第一设定检测角度劈尖干涉条纹的图像灰度值，为电磁铁未通电时第二设定检测角度劈尖干涉条纹的图像灰度值，为第二设定检测角度；设定检测角度为起偏器和检偏器的夹角。

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