中国工程物理研究院应用电子学研究所黄麒力获国家专利权
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龙图腾网获悉中国工程物理研究院应用电子学研究所申请的专利一种高功率毫米波功率在线测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117929860B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311776432.7，技术领域涉及：G01R29/08；该发明授权一种高功率毫米波功率在线测量方法及装置是由黄麒力;孙迪敏;胡林林;胡鹏;马国武;蒋艺;熊寿奇;曾造金;张鲁奇;雷文强设计研发完成，并于2023-12-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高功率毫米波功率在线测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及一种高功率毫米波功率在线测量方法及装置，属于功率密度测量技术领域，方法包括待测毫米波波束入射至测试屏，利用红外热像仪获得测试屏上每个像素点的温度，所述红外热像仪偏离待测毫米波波束的传输通道；根据测试屏的比热容、密度、温升、介电常数，以及待测毫米波波束的角频率及脉宽，确定待测毫米波波束的功率，本发明能够解决现有技术中存在利用定向耦合器对高功率毫米波进行在线功率测量与监测，无法保证测量结果准确性的技术问题。
本发明授权一种高功率毫米波功率在线测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种高功率毫米波功率在线测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 待测毫米波波束入射至测试屏，利用红外热像仪获得测试屏上每个像素点的温度，所述红外热像仪偏离待测毫米波波束的传输通道； 根据测试屏的比热容、密度、温升、介电常数，以及待测毫米波波束的角频率及脉宽，确定待测毫米波波束的功率； 入射至测试屏的待测毫米波波束功率为，待测毫米波波束在测试屏上损耗的功率为，则：，其中，表示自由空间的波阻抗，表示待测毫米波波束的角频率，和分别表示测试屏介电常数的实部和虚部，表示测试屏的厚度； 待测毫米波波束在测试屏上损耗的功率和温升满足： ，其中，表示测试屏的密度，表示测试屏的比热容，表示待测毫米波波束的脉宽，S表示待测毫米波波束对测试屏的照射面积，表示垂直于待测毫米波波束光轴的温升。
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