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龙图腾网获悉中国科学院空天信息创新研究院申请的专利一种成像探测器像素内量子效率标校的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117629394B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311466461.3，技术领域涉及：G01J1/02；该发明授权一种成像探测器像素内量子效率标校的方法是由张泽;薛鹤猛;商明涛;于闳飞设计研发完成，并于2023-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种成像探测器像素内量子效率标校的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种成像探测器像素内量子效率标校的方法，首先建立成像探测器灰度值I和光子数S之间的关系式；将成像探测器表面每个像元均匀划分为k×k个有序标记的微像元，对应的曝光时间内累积接受到的光子数记为Si，j；建立成像探测器像素m，n上的各区域反映量子效率特性的系数矩阵方程，求解该系数矩阵方程得到像素m，n的量子效率分布情况；在成像探测器和拍摄目标相对移动的过程中拍摄k22张图片，使目标光场Si，j先后出现在k22个像素上，建立k22个反映灰度值I与光子数Si，j关系的方程组；根据量子效率分布和建立的方程组，求解k22倍超分辨图像[Si，j]。该方法是基于像素内量子效率分布求解标校超分辨图像，因而不会出现伪信息，不受限于数据集，提高了标校效率。

本发明授权一种成像探测器像素内量子效率标校的方法在权利要求书中公布了：1.一种成像探测器像素内量子效率标校的方法，其特征在于，所述方法包括： 步骤1、建立成像探测器灰度值I和光子数S之间的关系式； 步骤2、将成像探测器表面每个像元均匀划分为k×k个有序标记的微像元，对应的曝光时间内累积接受到的光子数记为Si，j；其中，k为按需设置的正整数；i、j为要研究的微像元在像素内的坐标或所在位置对应行列数，i、j都是正整数，且均小于等于k； 步骤3、建立成像探测器像素m，n上的各区域反映量子效率特性的系数矩阵方程，求解该系数矩阵方程得到像素m，n的量子效率分布情况； 步骤4、在成像探测器和拍摄目标相对移动的过程中拍摄k2张图片，使目标光场Si，j先后出现在k2个像素上，建立k2个反映灰度值I与光子数Si，j关系的方程组； 步骤5、根据步骤3得到的量子效率分布和步骤4建立的方程组，求解k2倍超分辨图像[Si，j]。

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