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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利偏振BRDF特性测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116754519B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310982576.1，技术领域涉及：G01N21/47；该发明授权偏振BRDF特性测量装置及方法是由颜志强;汪洪源;刘祥;宁乾皓;卢寅玺;迮流川江设计研发完成，并于2023-08-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本偏振BRDF特性测量装置及方法在说明书摘要公布了：偏振BRDF特性测量装置及方法，属于光学测量技术领域，本发明为解决现有BRDF或偏振BRDF测量速度慢、测量效率低问题。本发明方案：第二个焦点处的激光光源发出激光垂直透过圆偏振光产生系统和起偏系统，圆偏振光产生系统将激光光源发出的激光转化为圆偏振光，起偏系统对圆偏振光的偏振状态进行定量改变形成测量用入射光，入射光通过半反半透平面镜的透射光经由椭球反射镜第一次反射照射至第一个焦点处待测样片表面，待测样片表面反射光波经椭球反射镜内表面再次反射，反射光波向第二个焦点方向传输并经半反半透平面镜反射，反射光波经过检偏系统汇聚至第三个焦点处测量系统，检偏系统与起偏系统同步调节偏振度，测量系统对待测样片的偏振BRDF特性进行测量。

本发明授权偏振BRDF特性测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.偏振BRDF特性测量装置，其特征在于，包括椭球反射镜1、激光光源2、圆偏振光产生系统3、起偏系统4、检偏系统5、测量系统6和半反半透平面镜8， 椭球反射镜1的第一个焦点F1处设置待测样片7，椭球反射镜1的第二个焦点F2处设置激光光源2，激光光源2、圆偏振光产生系统3和起偏系统4构成测量用入射光形成单元，圆偏振光产生系统3和起偏系统4沿激光光源2光轴方向依次布置；半反半透平面镜8设置在第一、第二两个焦点之间的测量用入射光形成单元的出光侧，椭球反射镜1的第二个焦点相对所述半反半透平面镜8的虚像处作为第三个焦点F3，在第三个焦点F3处设置测量系统6，测量系统6和半反半透平面镜8之间设置检偏系统5； 激光光源2发出的激光垂直透过圆偏振光产生系统3和起偏系统4，圆偏振光产生系统3将激光光源2发出的激光转化为圆偏振光输出，起偏系统4对圆偏振光的偏振状态进行定量改变形成测量用入射光，所述入射光通过半反半透平面镜8的透射光经由椭球反射镜1第一次反射照射至待测样片7表面，待测样片7表面反射光波经椭球反射镜1内表面再次反射，该反射光波向第二个焦点F2方向传输并经半反半透平面镜8反射，反射光波经过检偏系统5汇聚至测量系统6，检偏系统5与起偏系统4同步调节偏振度，测量系统6对待测样片7的偏振BRDF特性进行测量。

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