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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种多模式位置探测和目标模拟复合测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116558778B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310540125.2，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权一种多模式位置探测和目标模拟复合测试装置及方法是由冯云鹏;程灏波;张少华设计研发完成，并于2023-05-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多模式位置探测和目标模拟复合测试装置及方法在说明书摘要公布了：本发明为一种多模式位置探测和目标模拟复合测试装置及方法，系统包括：离轴抛物面镜，第一分光片、第二分光片、光纤模块、靶标模块，凹面镜、连续衰减片、第三分光片、位置探测模块，光电探测器模块。本发明装置有多种工作模式，包括目标模拟模式、光纤扫描模式、光电探测模式和位置探测模式，可方便实现待测仪器系统激光性能参数，多通道光学系统光轴之间平行性，以及待测仪器系统激光接收光轴的测量，并且可高速相机上实时获得光斑像，指示出当前光轴的位置信息。本发明装置具有集成度高，测量方法简单，测量精度高，可满足现有宽波段多光学通道系统多功能、高效化综合测试。

本发明授权一种多模式位置探测和目标模拟复合测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种多模式位置探测和目标模拟复合测试装置，包括离轴抛物面镜1、第一分光片2、第二分光片3、光纤扫描模块4、靶标模块5、凹面镜6、第三分光片7、连续衰减片8、位置探测模块9、光电探测模块10、阵列排布光纤束41、光纤束42、光纤丝43、线排布光纤束44、光源滑块45、扫描光源46、导轨47、微调机构48、靶标底板51、靶标52、靶轮53、电机驱动轮54、电机55、宽波段光源56、通光管57、通孔58、高速相机或四象限探测器、电子快门92、针孔101、半导体光电探测器102； 其特征在于： 离轴抛物面镜1将入射的平行光反射汇聚至焦点；第一分光片2将入射光分为透射和反射两部分，反射光经第二分光片3分光后，分别到达光纤扫描模块4和靶标模块5，透射光经第三分光片7分光后，分别到达位置探测模块9和光电探测模块10；凹面镜6的球心与离轴抛物面镜1的焦点重合，经第一分光片2、第二分光片3和第三分光片7分光后，分别位于靶标模块5中的靶标面，光纤扫描模块4的光纤端面，光电探测模块10的针孔101，以及位置探测模块9的高速相机上； 电机55安装在靶标底板51上，电机驱动轮54与电机55的轴相连；靶标52安装在靶轮53上，靶轮53通过轴承安装在靶标底板51上；宽波段光源56通过通孔58与靶标52相对；靶轮53上有8个靶位，可安装8个不同的靶标52；电机驱动轮54通过齿轮和同步带与靶轮53相连；第一分光片2垂直于xoy平面，与光轴成45度夹角；第二分光片3平行于第一分光片2，与光轴成45度角；第三分光片7绕x轴旋转45度，与xoy平面成45度夹角； 所述的凹面镜6的球心与离轴抛物面镜1的焦点重合，分别位于靶标模块5中的靶标面，光纤扫描模块4的光纤端面，光电探测模块10的针孔，以及位置探测模块9中高速相机的CCD面上； 所述的第一分光片2、第二分光片3和第三分光片7的分光比均为50R50T；第一分光片2垂直于xoy平面，与光轴成45度夹角；第二分光片3平行于第一分光片，与光轴成45度角；第三分光片7绕x轴旋转45度，与xoy平面成45度夹角； 所述光纤束42一端为阵列排布光纤束41，另一端为线排布光纤束44；光纤连接关系为：将阵列排布光纤束41分为四个区域，每个区域按阵列排序；从每个区域选择对应序号的光纤丝，按分区顺序排列构成线排布光纤束44；保证扫描光源在移动过程中，不会对相邻光纤造成影响。

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