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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116500068B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310441628.4，技术领域涉及：G01N23/2005；该发明授权一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法是由王帅;刘文齐;黄陆军;麻子硕;金嘉熠;安琦;张宇;耿林设计研发完成，并于2023-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法在说明书摘要公布了：一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法，本发明具体涉及一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法。本发明针对晶粒细小且导电性较差的钛合金等粉末存在制备的EBSD样品导电性差、标定率低的问题。方法：一、将粉末制成块体样品；二、使用银胶将金属粉末粘在导电性好的铜块上；三、抛光、腐蚀，完成制备。本发明用于EBSD检测。

本发明授权一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法在权利要求书中公布了：1.一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法，其特征在于具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法具体是按以下步骤进行： 一、采用线切割制备铜块； 二、对铜块的待测面采用砂纸打磨光滑，得到打磨后铜块； 三、将含有TiB晶须的纳米晶粒TC4粉末与银胶搅拌混合，得到混合液；所述含有TiB晶须的纳米晶粒TC4粉末与银胶的体积比为1:2~10； 四、将混合液均匀涂抹在打磨后铜块的待测面，然后置于通风处风干1~2h，采用砂纸打磨至露出粉末截面，得到打磨后试样；所述砂纸打磨是依次采用1000#砂纸、1500#砂纸、2000#砂纸、3000#砂纸、5000#砂纸进行打磨； 五、将SiO2胶体抛光液和H2O2溶液混合配置EBSD样品抛光液；所述H2O2溶液的体积分数为30%；所述SiO2胶体抛光液和H2O2溶液的体积比为9~10:1； 六、使用抛光布在抛光盘上对打磨后试样的待测面进行抛光，抛光的同时缓慢向抛光布上滴加EBSD样品抛光液，抛光至试样的待测面无划痕后使用HF溶液进行腐蚀处理；所述HF溶液的体积分数为1%；所述腐蚀处理的时间为4~5s；所述抛光布为多孔氯丁橡胶抛光布； 七、重复步骤六两次，完成具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备。

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