因美纳有限公司B·陆获国家专利权
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龙图腾网获悉因美纳有限公司申请的专利用于结构化照明显微术的系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116360086B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310395344.6，技术领域涉及：G02B21/00；该发明授权用于结构化照明显微术的系统和方法是由B·陆;R·E·兰洛伊斯;A·J·扬;A·D·海伯格设计研发完成，并于2020-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于结构化照明显微术的系统和方法在说明书摘要公布了：本发明所公开的技术涉及结构化照明显微术SIM。特别地，本发明所公开的技术涉及实时捕获和处理大图像平面上的大量图像区块，将它们划分为子区块，有效地处理所述子区块，以及从所述子区块产生增强分辨率的图像。所述增强分辨率的图像可组合成增强图像，并且可用于后续分析步骤。
本发明授权用于结构化照明显微术的系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种生成子区块校准参数的方法，所述方法与扫描仪一起使用以产生样本的荧光的增强分辨率的图像，所述样本定位成比所述样本的至少一些相邻对之间的光学分辨率的阿贝衍射极限更靠近，所述方法包括： 使用由透镜投影到所述扫描仪中的光学传感器上的基本上全视场来校准所述扫描仪，包括： 在结构化照明下以所述结构化照明的多个角度和相位位移捕获至少一个图像区块； 计算所述图像区块上的光学失真，包括 测量所述图像区块的包括近中心子区块的至少9个子区块中的强度峰值之间的间距和由所述强度峰值指示的投影的照明图案的角度，以及 分别将间距表面和角度表面拟合到所测量的间距和角度，其中所述间距表面和所述角度表面两者均表示对所述图像区块的所述子区块上的失真的校正；以及 以所述子区块内的所述多个角度和所述相位位移来测量所述结构化照明的相位位移，以及生成查找表，所述查找表表示所述图像区块的所述近中心子区块中的所述相位位移和其他子区块中的所述相位位移之间的差异； 保存所述子区块校准参数，包括所述查找表以及包括将所述至少8个附加子区块上的所述强度峰值的所述间距和所述投影的照明图案的所述角度与所述近中心子区块相关的所述拟合的结果，以供所述扫描仪在生产中使用。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人因美纳有限公司，其通讯地址为：美国加利福尼亚州；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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