浙江众凌科技有限公司蔡俊飞获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江众凌科技有限公司申请的专利一种箔材无损应力磁测方法及磁测系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116358756B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310234898.8,技术领域涉及:G01L5/00;该发明授权一种箔材无损应力磁测方法及磁测系统是由蔡俊飞;李斌;王玉航;沈洵;徐华伟;夏金晓设计研发完成,并于2023-03-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种箔材无损应力磁测方法及磁测系统在说明书摘要公布了:本发明公开一种箔材无损应力磁测方法及磁测系统,包括以下步骤:S100:在不同的提离高度下,测试不同的激励电流下磁感应电压值V0i0i与激励电流I0i0i的曲线关系;S200:选取V0i0i变化率在30%~50%之间的激励电流范围I0a0a~I0b0b,并搜索V0i0i变化率在30%~50%之间的提离高度范围haa~hbb,选取上述电流范围内和高度范围内的I0ab0ab和habab作为测试输入条件;S300:向待测的箔材样品施加连续拉力后,测试0°和45°方向的电压值V0ti0ti和V45ti45ti;S400:以的速率增大,得到箔材样品的残余应力与拉力+以及灵敏度系数之间的关系;S500:得出灵敏度系数后,除去连续拉力,通过已知的弹性解析理论分解求出主应力,,从而得出残余应力。
本发明授权一种箔材无损应力磁测方法及磁测系统在权利要求书中公布了:1.一种箔材无损应力磁测方法,其特征在于,包括以下步骤: S100:在不同的提离高度下,测试不同的激励电流下磁感应电压值V0i与激励电流I0i的曲线关系; S200:选取V0i变化率在30%~50%之间的激励电流范围I0a~I0b,并搜索V0i变化率在30%~50%之间的提离高度范围ha~hb,选取上述激励电流范围内和高度范围内的I0ab和hab作为测试输入条件; S300:向待测的箔材样品施加连续拉力后,测试0°和45°方向的电压值V0ti和V45ti,得到箔材样品的残余应力与拉力以及灵敏度系数之间的关系,即公式1:,其中为无拉力时箔材样品的残余应力,为灵敏度系数; S400:以的速率增大,得到箔材样品的残余应力与拉力+以及灵敏度系数之间的关系,得到灵敏度系数,箔材样品的平均灵敏度系数进行加权积分表示为:,其中,; S500:得出灵敏度系数后,除去连续拉力,则未知的待测箔材残余应力,以及已知最大主应力与X轴向的夹角θ,通过已知的弹性解析理论分解求出主应力,,从而得出。
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