上海矽印科技有限公司李高志获国家专利权
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龙图腾网获悉上海矽印科技有限公司申请的专利一种基于白噪声直方图的TDC线性度补偿方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115980715B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211683367.9,技术领域涉及:G01S7/497;该发明授权一种基于白噪声直方图的TDC线性度补偿方法是由李高志;江建明;朱健军;张睿轶设计研发完成,并于2022-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于白噪声直方图的TDC线性度补偿方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于白噪声直方图的TDC线性度补偿方法,通过采集白噪声直方图,软件提取不同相位间的偏移误差,对TDC中存在的不同相位间的精度进行反向补偿校准,能有效消除由于设计,版图布局布线及温度导致的不同相位间精度误差;采用软硬件结合方法,软件分析获取的白噪声数据,提取特征参数,实现校准的灵活性;硬件对测距直方图数据进行校准,降低应用功耗,提高运行速度;在无需外部复杂设备情况下,既可以根据测试结果对批量化芯片的特征值提取,将结果应用于所有同批次芯片,从而获取对该批次芯片的批量补偿;也可以测距前对单芯片的,不同温度的TDC线性度校准补偿。
本发明授权一种基于白噪声直方图的TDC线性度补偿方法在权利要求书中公布了:1.一种基于白噪声直方图的TDC线性度补偿方法,其特征在于,基于接近测距传感器芯片实现,所述接近测距传感器数据链路中含有TDC、直方图及软件硬件实现的数据处理功能;该TDC线性度补偿方法包括校准和应用两部分,校准用于提取TDC相位数据的偏移参数,应用是在测距中应用之前获得的参数对测距直方图数据进行补偿; 校准包括: S1、启动校准; S2、采集白噪声采集:在确保直方图不饱和情况下,最大化地采集数据,获得白噪声直方图; S3、白噪声直方图分析:对该白噪声直方图进行相位处理; 首先,将各bin值从0~127按0~15相位依次归类, bin0-phase0, bin1-phase1, … bin15-phase15, bin16-phase0, bin17-phase1, … bin127-phase15 然后,将同一相位的计数值数据求和或取平均,得到直方图,水平轴对应为总共16相位,各相位间存在比较明显的相位非线性; 以最高峰值计数值除以各相位计数值,即:最高计数值各相位计数值,得到各相位的校准系数;将这组系数和对应的相位计数值相乘,即可得到归一化的相位直方图;将系数整数化,结合计数最大值,将系数放大再取整,用于提高精度; S4、提取校准系数:将上述直方图分析步骤中获得的校准系数保存起来,具体是将上述直方图分析中获得的这组校准系数保存起来,用于应用阶段的测距补偿; 应用阶段: P1、配置校准系数:将校准阶段中所获得的校准系数配置到对应的寄存器中,以便后续应用; P2、目标测距:采集待测目标的直方图; P3、直方图补偿:读取直方图数据,依次与对应的校准系数相乘,将乘积右移10bit,用于补偿参数提取时做的放大,结果作为校准后的直方图数据并作为给后续分值搜索的输入bin数据; P4、获取一帧测距结果:将上述直方图补偿后的结果,经过包括平滑滤波及峰值搜索在内的DSP处理,获得目标距离信息; 若需要更多距离帧,则重复P1-P4的应用阶段。
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