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龙图腾网获悉中国科学院空天信息创新研究院申请的专利电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115900598B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310010200.4，技术领域涉及：G01B11/26；该发明授权电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置是由郭广妍;赵鹏;麻云凤;程旺;曹灿;杨学博;白芳;廖利芬;殷晨轩;周家玮;周雅宋;钟涛;吕玮智;樊仲维设计研发完成，并于2023-01-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置在说明书摘要公布了：本公开提供了一种电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置，包括：激光器1，用于产生测试光束；光整形模块，用于将测试光束整形和扩束；锥光干涉模块，用于调整整形和扩束后的测试光束的偏振度，并将测试光束调整为锥形光束，作用于被测电光晶体上；样品姿态调整组件8，用于设置被测电光晶体，在三维空间内调整被测电光晶体的转动角度；准直成像模块，用于聚焦经过被测电光晶体后出射的测试光束；第一探测模块11，用于接收经过被测电光晶体后出射的测试光束，得到其光轴出露点；测量计算模块，计算被测电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角。

本发明授权电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置在权利要求书中公布了：1.一种电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置，其特征在于，包括： 激光器1，用于产生测试光束； 光整形模块，用于将所述测试光束整形和扩束； 锥光干涉模块，包括起偏器5和第一透镜组6，所述起偏器5用于调节整形和扩束后的所述测试光束的偏振度，使所述测试光束发生干涉，第一透镜组6设于所述起偏器5之后，用于将发生干涉的所述测试光束调整为锥形光束，作用于被测电光晶体上； 样品姿态调整组件8，用于设置所述被测电光晶体，在三维空间内调整所述被测电光晶体的转动角度； 准直成像模块，用于聚焦经过所述被测电光晶体射出的测试光束； 第一探测模块11，用于接收经过所述被测电光晶体射出的测试光束，得到其光轴出露点； 测量计算模块，用于计算所述被测电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角； 其中，所述激光器1、所述光整形模块、所述锥光干涉模块、所述被测电光晶体、所述准直成像模块、所述第一探测模块11沿晶体光轴直线排列； 样品定位组件，用于基于定心仪原理，检测所述被测电光晶体在旋转状态下表面反射光远场的指向变化，保证所述被测电光晶体的姿态定位精度； 所述样品定位组件包括： 分光镜12，设于所述起偏器5与所述第一透镜组6之间，用于透射所述测试光束，并将所述被测电光晶体的表面反射光远场指向转折90°射出； 第三透镜组13，设于所述表面反射光的转折方向上，用于聚焦所述被测电光晶体的表面反射光； 第二探测模块14，用于探测所述表面反射光，当所述表面反射光的光斑与所述第二探测模块14的中心对准时，所述被测电光晶体所在平面与所述测试光束垂直； 角锥棱镜15，用于在测试开始前，设于所述样品姿态调整组件8上，将所述测试光束原路反射，配合所述分光镜12、所述第三透镜组13和第二探测模块14确定被测电光晶体的基准平面。

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