重庆大学李辉获国家专利权
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龙图腾网获悉重庆大学申请的专利一种压接封装功率器件短路耐受能力测试及评估方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115684997B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211356605.5,技术领域涉及:G01R31/52;该发明授权一种压接封装功率器件短路耐受能力测试及评估方法是由李辉;刘人宽;姚然;赖伟;段泽宇;朱哲研;周柏灵;陈思宇;李金元;陈中圆设计研发完成,并于2022-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种压接封装功率器件短路耐受能力测试及评估方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种压接封装功率器件短路耐受能力测试及评估方法,属于电力电子器件技术领域。该方法包括:S1:搭建测试平台;S2:获取待测器件实际应用工况下电压等级、压力加载、环境温度与最大结温波动范围;S3:分别进行不同电压、压力、温度等级下压接封装器件短路耐受能力测试,实时监测器件短路电流、集射极电压和栅射极电压的变化,直至功率器件短路失效,对应获取电压与短路临界能量及临界温度的关系,压力与短路电流的关系,温度与短路电流的关系;S4:根据测试结果,得出待测压接封装器件短路耐受能力与电压、压力、温度的关系。本发明考虑了压接封装功率器件的特殊应用条件,提高了压接封装功率器件短路耐受能力测评的准确性。
本发明授权一种压接封装功率器件短路耐受能力测试及评估方法在权利要求书中公布了:1.一种压接封装功率器件短路耐受能力测试及评估方法,其特征在于,该方法具体包括以下步骤: S1:搭建适用于压接封装功率器件的短路耐受能力测试平台; S2:获取待测压接封装功率器件实际应用工况下电压等级、压力加载、环境温度与最大结温波动范围; S3:定制短路耐受能力测试方案,具体包括:分别进行不同电压、压力、温度等级下压接封装器件短路耐受能力测试,实时监测器件短路电流IS、集射极电压VCE和栅射极电压VGE的变化,直至功率器件短路失效,对应获取电压与短路临界能量ECR及临界温度TCR的关系,压力与短路电流的关系,温度与短路电流的关系; 进行不同电压等级下压接封装器件短路耐受能力测试,具体包括:在选定的电压等级下分别进行功率器件短路耐受能力测试,实时监测器件短路电流IS、集射极电压VCE、栅射极电压VGE,直至功率器件短路失效; 1基于短路电流IS和集射极电压VCE计算功率器件短路临界能量ECR: 其中,tSCWC为功率器件短路耐受时间,即从测试开始至功率器件短路失效的维持时间; 2基于不同电压等级下的测试结果,拟合测试电压Ui与短路临界能量ECR的关系: 其中,为测试电压Ui与短路临界能量ECR之间的拟合关系函数; 3得出测试电压Ui与临界温度TCR的关系: 其中,Kchip为与压接封装功率器件所用芯片材料及结构相关的参数,TEN为环境温度; 进行不同压力等级下压接封装器件短路耐受能力测试,具体包括:在选定的压力等级下分别进行功率器件短路耐受能力测试,实时监测器件短路电流IS、集射极电压VCE、栅射极电压VGE的变化,直至功率器件短路失效; 基于不同压力等级下的测试结果,拟合测试压力Fi与器件短路电流IS的关系: 其中,为测试压力Fi与器件短路电流IS的拟合关系函数; 进行不同温度等级下压接封装器件短路耐受能力测试,具体包括:在选定的温度等级下分别进行功率器件短路耐受能力测试,实时监测器件短路电流IS、集射极电压VCE、栅射极电压VGE的变化,直至功率器件短路失效; 基于不同温度等级下的测试结果,拟合温度Ti与器件短路电流IS的关系: 其中,k为与压接封装功率器件所用芯片特性相关的参数,为测试压力Fi与器件短路电流IS的拟合关系函数; S4:根据不同电压、压力、温度的测试结果,得出待测压接封装器件短路耐受能力与电压、压力、温度的关系。
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