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龙图腾网获悉珠海真理光学仪器有限公司申请的专利基于激光粒度仪测量颗粒样品中超大粒含量的方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115655985B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210774537.8，技术领域涉及：G01N15/02；该发明授权基于激光粒度仪测量颗粒样品中超大粒含量的方法及装置是由张福根;潘林超设计研发完成，并于2022-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于激光粒度仪测量颗粒样品中超大粒含量的方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及基于激光粒度仪测量颗粒样品中超大粒含量的方法，通过预设定的超大粒的最小粒径，计算所述最小粒径散射光能分布的峰值位置，即峰值对应的探测单元序号I，基于探测单元序号I，找寻出N帧散射光能分布信号中含有超大粒的信号，将含有超大粒的信号从N帧散射光能分布信号分离出来，并分别计算含有超大粒与不含超大粒的信号对应的粒度分布，基于不含超大粒的信号对应的粒度分布的百分比粒径D9090计算含有超大粒的信号对应的粒度分布中的超大粒比例，并最终计算出超大粒含量。本发明的计算方法能够先将含有超大粒的信号进行有效的区分，进而计算含有超大粒的信号中超大粒的含量，能够避免现有方法中对超大粒含量检测的灵敏度不高的问题。

本发明授权基于激光粒度仪测量颗粒样品中超大粒含量的方法及装置在权利要求书中公布了：1.基于激光粒度仪测量颗粒样品中超大粒含量的方法，其特征在于，包括以下： 步骤110、进行N次有效采样得到N帧散射光能分布信号，确保数据采集卡能够对光电探测器各单元并行采样，且采集帧频足够高，确保所有颗粒流过测量区时，至少被采样一次； 步骤120、根据预设定的超大粒的最小粒径，计算所述最小粒径散射光能分布的峰值位置，即峰值对应的探测单元序号，记为I； 步骤130、基于所述探测单元序号I，找寻出N帧散射光能分布信号中含有超大粒的信号，设共有U帧，则不含超大粒的信号共有N-U帧，分别计算所述U帧信号的平均散射光能分布以矢量的形式记为以及所述N-U帧信号的平均散射光能分布以矢量的形式记为 步骤140、基于所述反演计算含有超大粒的信号对应的粒度分布基于所述反演计算不含超大粒的信号对应的粒度分布 步骤150、计算的百分比粒径D90，基于计算结果计算中的超大粒比例δ，则颗粒样品中超大粒的体积含量为

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