西北工业大学冯斌获国家专利权
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龙图腾网获悉西北工业大学申请的专利高动态焦平面探测器的制作方法及高动态图像获取方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115423713B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211071223.8,技术领域涉及:G06T5/90;该发明授权高动态焦平面探测器的制作方法及高动态图像获取方法是由冯斌;冯萍设计研发完成,并于2022-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本高动态焦平面探测器的制作方法及高动态图像获取方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种高动态焦平面探测器的制作方法,通过设计基底、第1种中性密度衰减膜和第2种中性密度衰减膜的光学透过率,制作2×2栅格周期排布的四通道中性密度衰减片阵列光学器件,采用悬空式集成四通道中性密度衰减片阵列光学器件至探测器的焦平面,形成高动态焦平面探测器,对高动态焦平面探测器输出的四类通道的原始图像进行图像超分辨重构得到四幅全分辨率图像,对四类通道的全分辨率图像进行透过率归一化处理得到四幅归一化图像,最后由四幅归一化图像合成高动态场景图像,具有制造工艺简单、结构紧凑、集成度高、可快照式成像、成本低的优点。
本发明授权高动态焦平面探测器的制作方法及高动态图像获取方法在权利要求书中公布了:1.一种高动态焦平面探测器的制作方法,其特征在于,包括如下步骤: S11:设计基底的工作波段、第1种中性密度衰减膜和第2种中性密度衰减膜的光学透过率;所述基底的工作波段、所述第1种中性密度衰减膜和所述第2种中性密度衰减膜的光学透过率满足的约束条件包括:所述基底的工作波段范围覆盖探测器的工作波段范围;所述第1种中性密度衰减膜的光学透过率高于所述第2种中性密度衰减膜的光学透过率; S12:利用所述基底、所述第1种中性密度衰减膜和所述第2种中性密度衰减膜制作2×2栅格周期排布的四通道中性密度衰减片阵列光学器件,所述四通道中性密度衰减片阵列光学器件包括多个呈阵列排布的四通道中性密度衰减片单元块,其中每个所述四通道中性密度衰减片单元块包括2×2个具有不同光学透过率的中性密度衰减片单元,所述四通道中性密度衰减片阵列光学器件中任意所述中性密度衰减片单元块中的四个通道具有不同的光学透过率; S13:将所述四通道中性密度衰减片阵列光学器件以悬空式集成至焦平面探测器的焦平面,形成高动态焦平面探测器,所述高动态焦平面探测器包括四类通道的像元,所述四类通道的像元包括第1类通道像元、第2类通道像元、第3类通道像元、第4类通道像元,其中,所述第1类通道像元为未经所述第1种中性密度衰减膜作用且未经所述第2种中性密度衰减膜作用的像元,所述第2类通道像元为经过所述第1种中性密度衰减膜作用且未经所述第2种中性密度衰减膜作用的像元,所述第3类通道像元为未经所述第1种中性密度衰减膜作用且经过所述第2种中性密度衰减膜作用的像元,所述第4类通道像元为经过所述第1种中性密度衰减膜作用且经过所述第2种中性密度衰减膜作用的像元。
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