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龙图腾网获悉深圳市华星光电半导体显示技术有限公司申请的专利基板阻抗测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114689940B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210272241.6，技术领域涉及：G01R27/02；该发明授权基板阻抗测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质是由白一晨;胡亮设计研发完成，并于2022-03-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本基板阻抗测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种基板阻抗测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：发送第一测试信号至待测试基板，接收各个测试端子之间的第一阻抗值，第一阻抗值小于第一阈值表示待测试基板上存在线路异常，在第一阻抗值小于第一阈值时通过发送负压测试信号至目标端子对，目标端子对是指数值小于第一阈值的第一阻抗值所对应的两个测试端子，根据目标端子对返回的第二阻抗值，确定目标端子对处具体的线路异常情况，从而确定待测试基板的测试结果，通过第一轮测试确定各个测试端子之间是否存在线路异常，在确定存在线路异常的情况下通过第二轮测试来确定具体的线路异常是否为短路异常，从而实现精准判断待测试基板上是否存在短路异常。

本发明授权基板阻抗测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基板阻抗测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 发送第一测试信号至待测试基板，其中，所述第一测试信号用于测试所述待测试基板中各个测试端子之间的阻抗值； 接收各个所述测试端子之间的第一阻抗值； 在所述第一阻抗值小于第一阈值时，发送负压测试信号至目标端子对，其中，所述目标端子对为数值小于所述第一阈值的所述第一阻抗值所对应的两个所述测试端子； 接收所述目标端子对相应的第二阻抗值，并根据所述第二阻抗值确定所述待测试基板的测试结果； 其中，所述负压测试信号包括负压信号和第二测试信号，所述在所述第一阻抗值小于第一阈值时，发送负压测试信号至目标端子对，包括： 在所述第一阻抗值小于第一阈值时，发送所述负压信号至所述目标端子对，其中，所述负压信号用于关断目标晶体管，所述目标晶体管为所述目标端子对相应两个所述测试端子之间的薄膜晶体管； 在所述目标晶体管处于关断状态时，发送所述第二测试信号至所述目标端子对。

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