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龙图腾网获悉季华实验室申请的专利单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120869561B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511383240.9，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及存储介质是由唐嘉铭;颜林;马四光设计研发完成，并于2025-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及单光子探测技术领域，尤其涉及一种单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及存储介质，所述方法通过构建时域间隔数据的统计直方图、建立单光子探测器的光子计数率及暗计数的统计分布特性，并基于统计分布特性定义光脉冲持续时间内无光子探测事件的概率与预设时间窗内无暗脉冲出现的理想概率，接着基于上述获取的参数计算周期性光脉冲产生单光子信号的概率，最后基于统计直方图及周期性光脉冲产生单光子信号的概率确定周期统计峰值计数值，并计算平均探测光子数、暗计数率，进而获取死区时间，实现通过一次数据采集同时表征单光子探测器的平均探测光子数、暗计数率和死区时间等信息，解决了传统方法中数据存储量大、成本高的问题。

本发明授权单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种单光子探测器性能参数测量方法，其特征在于，包括： 采集单光子探测器各光子事件对应的起始脉冲与终止脉冲间的时域间隔数据，以构建所述时域间隔数据的统计直方图； 建立所述单光子探测器的光子计数率及暗计数的统计分布特性，并基于所述统计分布特性定义光脉冲持续时间内无光子探测事件的概率与预设时间窗内无暗脉冲出现的理想概率； 基于所述统计分布特性、光脉冲持续时间内无光子探测事件的概率及预设时间窗内无暗脉冲出现的理想概率，计算周期性光脉冲产生单光子信号的概率； 从所述统计直方图中获取光脉冲全宽；基于所述光脉冲全宽对所述统计直方图的统计刻度宽度进行重新设定，得到数值大于所述光脉冲全宽的目标统计刻度宽度；利用所述目标统计刻度宽度对所述统计直方图进行进一步直方图统计，得到目标统计直方图，并从所述目标统计直方图中获取统计峰值；基于所述周期性光脉冲产生单光子信号的概率设定每个周期统计峰值计数，以根据所述每个周期统计峰值计数和所述统计峰值进行计算，得到平均探测光子数和暗计数率； 获取预设的第一暗脉冲概率和预设的第二暗脉冲概率；基于所述第一暗脉冲概率、第二暗脉冲概率和所述暗计数率生成暗脉冲时域统计直方图；分析所述暗脉冲时域统计直方图的单调性变化，确定所述暗脉冲时域统计直方图的单调性转折点，以获取死区时间。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人季华实验室，其通讯地址为：528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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