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龙图腾网获悉蓝星光域(上海)航天科技有限公司申请的专利一种用于测量正交回转轴系的正交性的方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120800270B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511129904.9，技术领域涉及：G01B11/27；该发明授权一种用于测量正交回转轴系的正交性的方法和装置是由王伟鉴;王波涛;闫志欣;储朱琴设计研发完成，并于2025-08-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于测量正交回转轴系的正交性的方法和装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于测量正交回转轴系的正交性的方法和装置，属于正交回转轴系检测技术领域，所述正交回转轴系包括第一回转轴系和第二回转轴系，所述方法包括：使用CCD双轴自准直仪以及分别与第一回转轴系和第二回转轴系固定的立方基准棱镜和双面光学平晶进行轴倾角回转误差测量与姿态微调；使用第二回转轴系通过双面光学平晶设置基准十字线XY；通过调整两个回转轴系的安装位置使立方基准棱镜的反射光束的十字线与基准十字线XY重合；转动第一回转轴系，记录角偏差值并计算出两个回转轴系的正交性值。本发明消除了两台自准直仪相互瞄准的基准漂移误差，消除了轴系自身回转误差对正交性测量的干扰，整体上提高了轴系正交性测量的精度和可靠性。

本发明授权一种用于测量正交回转轴系的正交性的方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种用于测量正交回转轴系的正交性的方法，所述正交回转轴系至少包括第一回转轴系和与其正交的第二回转轴系，其特征在于，包括以下步骤： S1：使用第一CCD双轴自准直仪向固定安装至第一回转轴系的立方基准棱镜的一个反射面发射激光光束，转动第一回转轴系以测量第一回转轴系的倾角回转误差值，并通过对立方基准棱镜的姿态进行微调，使得倾角回转误差值小于特定值，以此确定第一回转轴系的机械基准轴线和立方基准棱镜的位置，其中立方基准棱镜的所述一个反射面平行于第二回转轴系的机械基准轴线且在第一CCD双轴自准直仪的近端，且立方基准棱镜的几何中心位于第一回转轴系的机械基准轴线与第二回转轴系的机械基准轴线的交点处； S2：使用第二CCD双轴自准直仪向固定安装至第二回转轴系的双面光学平晶的第一反射面发射激光光束，转动第二回转轴系以测量第二回转轴系的倾角回转误差值，并通过对双面光学平晶的姿态进行微调，使得倾角回转误差值小于所述特定值，以此确定第二回转轴系的机械基准轴线和双面光学平晶的位置，其中双面光学平晶的所述第一反射面在第二CCD双轴自准直仪的近端； S3：遮挡住双面光学平晶的在第二CCD双轴自准直仪的远端的第二反射面，使用第二CCD双轴自准直仪向双面光学平晶的第一反射面发射激光光束，以双面光学平晶的反射光束为基准，对CCD双轴自准直仪执行相对测量清零并设置基准十字线XY； S4：去掉遮挡，使用第二CCD双轴自准直仪向双面光学平晶的第一反射面发射激光光束，并通过装调第一回转轴系和第二回转轴系的安装位置，使得经过双面光学平晶反射到立方基准棱镜的与第二回转轴系的机械基准轴线垂直的四个反射面上的反射光束的十字线X′Y′与基准十字线XY重合； S5：使用第二CCD双轴自准直仪向双面光学平晶的第一反射面发射激光光束，转动第一回转轴系，使立方基准棱镜的所述四个反射面的反射光束的十字线X′Y′在X与Y方向中的一个方向上与基准十字线XY重合，并记录所述反射光束的十字线X′Y′在X与Y方向中的另一方向上相对于基准十字线XY的角偏差值、、和，计算出第一回转轴系和第二回转轴系的正交性值。

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