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龙图腾网获悉西安理工大学申请的专利一种基于Offner结构的分光光度计光学系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120028243B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510180998.6，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权一种基于Offner结构的分光光度计光学系统是由杜斌;王瀚;杨柯楠;尹梦伟;王赛男;金豆豆;裴翌廷;周世生设计研发完成，并于2025-02-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于Offner结构的分光光度计光学系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于Offner结构的分光光度计光学系统，所述分光光度计光学系统包括由第一透镜和第二透镜组成的第一会聚部、入射狭缝、凹面反射镜、凸面反射光栅、出射狭缝、准直透镜，分束器，参比池、平面反射镜、由第三透镜和第四透镜组成的第二会聚部、样品池以及由第五透镜和第六透镜组成的第三会聚部。该分光光度计光学系统能够实现宽光谱范围的材料光学分析或测试，且具有可消除光源波动、环境温度变化、溶剂吸收等系统性误差，提高数据可靠性，光源强度随时间衰减或波动时，参比光路同步补偿，避免单光束仪器需频繁校准的问题的优点。

本发明授权一种基于Offner结构的分光光度计光学系统在权利要求书中公布了：1.一种基于Offner结构的分光光度计光学系统，其特征在于，所述分光光度计光学系统包括： 由沿光路依次排列的第一透镜101和第二透镜102组成的第一会聚部1，入射狭缝2，凹面反射镜3，凸面反射光栅4，出射狭缝5，准直透镜6，分束器7，参比池8、平面反射镜9、由第三透镜1001和第四透镜1002组成的第二会聚部10、样品池11以及由第五透镜1201和第六透镜1202组成的第三会聚部12； 其中，所述凹面反射镜的光轴30与入射光轴平行，所述凸面反射光栅4与所述凹面反射镜3共轴，所述凹面反射镜3和所述凸面反射光栅4组成offner结构；所述第一透镜101、所述第二透镜102、所述第三透镜1001和所述第四透镜1002、所述第五透镜1201以及所述第六透镜1202均为球面镜； 入射光束进入所述第一会聚部1，经所述第一透镜101和所述第二透镜102依次会聚后，经所述入射狭缝2限定路径而被所述凹面反射镜3反射至所述凸面反射光栅4，再经所述凸面反射光栅4分光反射至所述凹面反射镜3后，被所述凹面反射镜3再次反射形成光谱，并投影于所述出射狭缝5，出射光束再经过所述准直透镜6进行准直，再经过所述分束器7将光束进行分束，分别通过参比池8和样品池11，参比光路再经过所述平面反射镜9将光路进行转折，最后再经过第二会聚部10和第三会聚部12分别将两路光进行会聚探测； 所述第一透镜101的光焦度为Φ101，所述第二透镜102的光焦度为Φ102，满足如下关系：0.1≤Φ101=Φ102≤0.25，分光光度计光学系统的光焦度Φ，第一会聚部的光焦度Φ1满足0.2≤Φ1Φ≤0.3； 所述入射狭缝2到所述第二透镜102像面的距离为D12，所述入射狭缝2到所述凹面反射镜3的距离为D23，所述入射狭缝2到所述凸面反射光栅4的距离为D24，所述凹面反射镜3的曲率半径为R1，所述凸面反射光栅4的曲率半径为R2，满足如下关系：0.2≤D12D23≤0.5,0.4≤D12D24≤0.8,0.5≤|R1||R2|≤0.75； 所述凹面反射镜3的曲率半径为R1，满足如下关系：-0.02≤R1≤-0.01； 所述凸面反射光栅4的曲率半径为R2，满足如下关系：-0.04≤R2≤-0.02。

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