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龙图腾网获悉富联裕展科技(深圳)有限公司申请的专利颗粒的粒径分布检测装置及颗粒的粒径分布检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119757145B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411844291.2，技术领域涉及：G01N15/0227；该发明授权颗粒的粒径分布检测装置及颗粒的粒径分布检测方法是由温胜山;吴泰纬;洪辰谕设计研发完成，并于2024-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本颗粒的粒径分布检测装置及颗粒的粒径分布检测方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种颗粒的粒径分布检测装置，包括第一振筛组件，包括第一主体、第一光学结构、第一接盘器及第一筛网；第一光学结构用于发射第一激光照射位于检测空间内的待测颗粒，生成第一探测信号，第一接盘器用于称量待测颗粒的第一质量；第二振筛组件，形成有第二检测空间，用于获取从第一筛网中通过的部分待测颗粒的第二质量，且用于根据部分待测颗粒生成第二探测信号；控制器，用于根据第一探测信号获取第一探测光的光强角度分布，根据第二探测信号获取第二探测光的光强角度分布，基于正态分布曲线，根据光强角度分布、第一质量及第二质量，获取至少部分待测颗粒的“粒径‑体积”分布信息。本申请还提供一种颗粒的粒径分布检测方法。

本发明授权颗粒的粒径分布检测装置及颗粒的粒径分布检测方法在权利要求书中公布了：1.一种颗粒的粒径分布检测装置，其特征在于，包括： 第一振筛组件，包括第一主体、第一光学结构、第一接盘器、第一筛网及第一驱动机构，所述第一主体围合形成第一检测空间，所述第一光学结构、所述第一接盘器及所述第一筛网位于所述第一检测空间内且连接于所述第一主体；所述第一光学结构用于发射第一激光照射位于所述第一检测空间内的待测颗粒，并用于接收所述待测颗粒根据所述第一激光散射的第一探测光以生成第一探测信号，所述第一接盘器用于称量所述待测颗粒的第一质量，所述第一筛网包括具有不同网孔尺寸的至少两个筛网层，所述第一驱动机构分别连接所述至少两个筛网层，所述第一筛网用于筛出部分待测颗粒； 第二振筛组件，形成有第二检测空间，所述第二振筛组件与所述第一振筛组件沿预设方向依次排列，所述第二振筛组件用于获取从所述第一筛网中通过的所述部分待测颗粒的第二质量，且用于根据所述部分待测颗粒生成第二探测信号；以及 控制器，分别电连接所述第一光学结构、所述第一接盘器、所述第二振筛组件及所述第一驱动机构，所述控制器用于基于预设的目标粒径范围D1-D2的边界值D2，控制所述第一驱动机构切换网孔尺寸与所述边界值D2更接近且大于或等于所述边界值D2的其中一所述筛网层至所述待测颗粒的路径上，其中D1＜D2，所述控制器还用于根据所述第一探测信号获取所述第一探测光的光强角度分布，并根据所述第二探测信号获取第二探测光的光强角度分布，基于正态分布曲线，根据所述光强角度分布、所述第一质量及所述第二质量，获取所述待测颗粒中粒径在所述目标粒径范围内的部分待测颗粒的“粒径-体积”分布信息。

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