福州大学向红亮获国家专利权
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龙图腾网获悉福州大学申请的专利一种考虑熔道偏移的增材制造成形件孔隙缺陷的预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119260022B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411370419.6，技术领域涉及：B22F10/366；该发明授权一种考虑熔道偏移的增材制造成形件孔隙缺陷的预测方法是由向红亮;赵伟;吴潮潮;詹贤明设计研发完成，并于2024-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种考虑熔道偏移的增材制造成形件孔隙缺陷的预测方法在说明书摘要公布了：本发明适用于金属增材制造领域，提供了一种考虑熔道偏移的增材制造成形件孔隙缺陷预测方法，该方法能综合考虑激光功率、扫描速度、扫描间距、铺粉厚度以及层间旋转角度对孔隙缺陷的影响，能快速、直观、准确地预测在给定工艺参数下试样中可能出现的孔隙缺陷，快速预测制备高致密试样的成形工艺方案。本发明的关键技术在于，考虑了成形过程中熔道偏移对孔隙缺陷的影响，能有效预测因熔道重叠不足导致的孔隙缺陷的产生，提升致密度预测的准确性，增强增材制造试样的重复性和稳定性。
本发明授权一种考虑熔道偏移的增材制造成形件孔隙缺陷的预测方法在权利要求书中公布了：1.一种考虑熔道偏移的增材制造成形件孔隙缺陷的预测方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1：熔道横截面尺寸的计算；采用解析方法计算熔道宽度a和深度d，依据成形前后体积不变条件计算熔道余高dt，获取不同激光功率和扫描速度下成形熔道横截面尺寸信息； 步骤2：基于熔道堆叠原理，考虑熔道偏移规律，建立孔隙缺陷预测模型；通过在预测模型中输入激光功率、扫描速度、扫描间距、铺粉厚度以及层间旋转角度，由该预测模型预测试样中可能出现的孔隙缺陷，并计算其致密度； 在所述步骤1中，熔道宽度a、深度d分别按下式计算： 式中：a为熔道宽度，α为激光吸收率；P为激光功率，ρs为材料密度，cs，为材料固态，cl液态状态下的比热容，T0为环境温度，Tm为金属熔化温度，v为扫描速度，u为激光直径，κ为热导率，K为固液界面上的温度梯度，h为对流换热系数，ε为材料发射率，σb为玻尔兹曼常数，L为熔化潜热； 熔道余高dt按下式计算： 其中，ρp为粉末松装密度，ρs为材料密度，t为铺粉厚度，h1为扫描间距，a为熔道宽度。
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