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龙图腾网获悉武汉精立电子技术有限公司;深圳精测光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利NED设备的检测对位方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118999354B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411159954.7，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权NED设备的检测对位方法及装置是由刘超;苗丹设计研发完成，并于2024-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本NED设备的检测对位方法及装置在说明书摘要公布了：一种NED设备的检测对位方法及装置，其用于拍摄相机与未点亮虚像的待测设备的对位过程，所述方法包括：获取拍摄相机的镜头光轴与预设的第一坐标原点之间的第一相对位置关系；获取待测设备中心点与所述第一坐标原点的第二相对位置关系；根据所述第一相对位置关系和所述第二相对位置关系，得到将所述拍摄相机的镜头光轴移动至与待测设备的中心点对准的移动方案。通过第一相对位置关系和第二相对位置关系实现推导得到镜头光轴与待测设备中心点之间的相对位置关系，并能够基于这一相对位置关系进一步计算得到如何将镜头光轴移动至与待测设备中心点对准的移动方案，利用移动方案即可完成拍摄相机的位置调节，使拍摄相机顺利与待测设备完成对位。

本发明授权NED设备的检测对位方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种NED设备的检测对位方法，其特征在于，其用于拍摄相机与未点亮虚像的待测设备的对位过程，所述方法包括： 获取拍摄相机的镜头光轴与预设的第一坐标原点之间的第一相对位置关系；包括以下步骤： 获取拍摄相机上一点与所述第一坐标原点之间的第三相对位置关系以及镜头光轴在拍摄相机上的安装位置； 根据所述镜头光轴在拍摄相机上的安装位置与所述第三相对位置关系，得到拍摄相机的镜头光轴与所述第一坐标原点之间的第一相对位置关系； 所述镜头光轴在拍摄相机上的安装位置根据在先执行的镜头光轴位置检测方法得到，所述镜头光轴位置检测方法包括以下步骤： 获取预设的检测光线垂直穿过所述拍摄相机的镜头后在拍摄画面中形成的光斑位置；其中，所述检测光线与所述拍摄相机之间具有预设的第四相对位置关系； 根据所述光斑位置、拍摄画面的中心点位置以及所述第四相对位置关系，确定所述镜头光轴在拍摄相机上的安装位置； 获取待测设备中心点与所述第一坐标原点的第二相对位置关系； 根据所述第一相对位置关系和所述第二相对位置关系，得到将所述拍摄相机的镜头光轴移动至与待测设备的中心点对准的移动方案。

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