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龙图腾网获悉深圳市华星光电半导体显示技术有限公司申请的专利一种时序调试方法、显示装置和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117475948B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311020900.8，技术领域涉及：G09G3/36；该发明授权一种时序调试方法、显示装置和存储介质是由文雅婷设计研发完成，并于2023-08-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种时序调试方法、显示装置和存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种时序调试方法、显示装置和存储介质。所述方法包括：获取所述显示面板在预设灰阶下的最佳公共电压；根据所述覆晶薄膜芯片的数量，确定所述显示面板上测点的数量，所述测点的数量与所述覆晶薄膜芯片的数量呈正相关；根据所述最佳公共电压获取所有所述测点各自对应的最佳充电时间；根据所述最佳充电时间调节输入至所述显示面板的扫描信号和数据信号的时序。本申请提高信号时序的调试准确率，提高画质显示效果。

本发明授权一种时序调试方法、显示装置和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种时序调试方法，其特征在于，应用于显示装置，所述显示装置包括显示面板、贴附在所述显示面板上的N个覆晶薄膜芯片，以及与所述覆晶薄膜芯片连接的控制板，所述覆晶薄膜芯片的数量与所述显示面板的面积呈正相关，所述方法包括： 获取所述显示面板在预设灰阶下的最佳公共电压； 根据所述覆晶薄膜芯片的数量，确定所述显示面板上测点的数量，所述测点的数量与所述覆晶薄膜芯片的数量呈正相关； 根据所述最佳公共电压获取所有所述测点各自对应的最佳充电时间； 根据所述最佳充电时间调节输入至所述显示面板的扫描信号和数据信号的时序； 所述显示面板包括沿第一方向和第二方向分别延伸的显示区，所述第二方向垂直于所述第一方向，在所述第二方向上将所述显示区划分为多个子显示区；所述根据所述覆晶薄膜芯片的数量，确定所述显示面板上测点的数量包括： 设定第一数量； 根据所述子显示区的数量和所述第一数量，计算得到所述显示面板中测点的数量； 所述扫描信号的时序的调节包括： 沿所述第二方向上靠近所述控制板的第一子显示区中所述测点的最佳充电时间，与沿所述第二方向上远离所述控制板的第二子显示区中所述测点的最佳充电时间进行相减计算得到第一差值，根据所述第一差值的最小值设定所述扫描信号的延迟时间，所述第一子显示区与所述第二子显示区在所述第二方向上沿所述显示面板的中心点相互对称。

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