长沙学院汪之又获国家专利权
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龙图腾网获悉长沙学院申请的专利表面等离子共振成像装置及其折射率检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116678854B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310530050.X，技术领域涉及：G01N21/552；该发明授权表面等离子共振成像装置及其折射率检测方法是由汪之又;谢端;张亮;肖文轩;周广顺设计研发完成，并于2023-05-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本表面等离子共振成像装置及其折射率检测方法在说明书摘要公布了：本申请属于生化物质检测领域，尤其涉及一种表面等离子共振成像装置及其折射率检测方法，该表面等离子共振成像装置采用波长扫描装置实现入射光波长的切换，电压调节透过率装置用于对不同入射光波长下偏振片透过率偏差进行补偿，采集控制系统通过控制电压调节透过率装置的外加电压和波长扫描装置输出光束的波长，同时采集不同波长下阵列探测器的数据进行差分运算以及样点区域与样点背景区域平均反射光强度的差分运算。本发明提出的表面等离子共振成像装置及其折射率检测方法，降低了检测过程的操作难度，减少运算时间和设备研制成本。
本发明授权表面等离子共振成像装置及其折射率检测方法在权利要求书中公布了：1.一种表面等离子共振成像装置，其特征在于，包括： 检测系统，包括介质耦合器、微阵列芯片以及与所述微阵列芯片接触的样品池，入射光经由介质耦合器耦合至所述微阵列芯片的金属表面； 光学系统，包括光源、光束整形器、波长扫描装置、电压调节透过率装置、偏振片和阵列探测器，所述光源、所述光束整形器、所述波长扫描装置、所述电压调节透过率装置和所述偏振片依次设置在沿入射光的光路上，所述波长扫描装置用于入射光波长的切换，所述电压调节透过率装置用于对不同入射光波长下所述偏振片的透过率偏差进行补偿，所述阵列探测器用于接收所述微阵列芯片的金属-介质界面的反射光束并测量其强度空间分布；以及 采集控制系统，在实验前采集所述阵列探测器的数据、记录微阵列芯片上各样点区域的空间位置；所述采集控制系统在实验中控制所述波长扫描装置输出光束的波长和所述电压调节透过率装置的外加电压，同时采集不同波长下所述阵列探测器的数据并进行差分运算以及进行样点区域与样点背景区域的平均反射光强度的差分运算。
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