杭州电子科技大学石义芳获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州电子科技大学申请的专利考虑目标测量不确定状态相关的先进后验克拉美罗下界获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116594006B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310166038.5，技术领域涉及：G01S13/72；该发明授权考虑目标测量不确定状态相关的先进后验克拉美罗下界是由石义芳;张扬帆;张瑜;彭冬亮设计研发完成，并于2023-02-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本考虑目标测量不确定状态相关的先进后验克拉美罗下界在说明书摘要公布了：本发明公开了考虑目标测量不确定状态相关的先进后验克拉美罗下界，包括如下步骤：步骤一、在进行目标跟踪时，确定目标运动过程的目标状态方程以及双基雷达的测量方程；步骤二、得到目标状态方程和传感器测量方程后，将目标k时刻的目标状态估计的费雪信息矩阵记作Jkk，则目标k时刻的状态估计的下界就是Jkk的逆矩阵，即先进后验克拉美罗下界；步骤三、计算有条件的测量信息矩阵步骤四、将计算得到有条件的测量信息矩阵代入得到先进后验克拉美罗下界。该方法在杂波干扰基础上，重点考虑了目标‑雷达几何位置影响下的目标漏检与测量噪声对PCRLB的影响。仿真实验验证了在双基雷达测量信息高度不确定下，相比于其它PCRLB方法，本专利的方法可以获得更准确的下界。
本发明授权考虑目标测量不确定状态相关的先进后验克拉美罗下界在权利要求书中公布了：1.一种考虑目标测量不确定状态相关的先进后验克拉美罗下界，其特征在于，包括如下步骤： 步骤一、在进行目标跟踪时，确定目标运动过程的目标状态方程以及双基雷达的测量方程； 步骤二、得到目标状态方程和传感器测量方程后，将目标k时刻的目标状态估计的费雪信息矩阵记作Jk，则目标k时刻的状态估计的下界就是Jk的逆矩阵，即先进后验克拉美罗下界，定义如下： 式中，E{·}为期望函数，为目标状态在k时刻的无偏估计； 构建包含漏检和杂波的测量模型的目标测量矢量的概率密度函数； 步骤三、得到了先进后验克拉美罗下界的表达式是的一部分，求解计算有条件的测量信息矩阵 测量信息矩阵在信息缩减因子的基础上得到额外的信噪比增益因子； 步骤四、将计算得到有条件的测量信息矩阵代入得到先进后验克拉美罗下界。
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